In-process monitoring of shape accuracy of flat surfaces of optical and microelectronic components in polishing

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2017
Автори: Ju. D. Filatov, V. I. Sidorko, S. V. Kovalev, Ju. Filatov, G. Montej
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2017
Назва видання:Superhard Materials
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000850183
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS