Lowering the density of dislocations in heteroepitaxial III-nitride layers: Effect of sapphire substrate treatment (review)
Збережено в:
| Дата: | 2016 |
|---|---|
| Автори: | P. V. Parphenyuk, A. A. Evtukh |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2016
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714525 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Lowering the density of dislocations in heteroepitaxial III-nitride layers: Effect of sapphire substrate treatment (review)
за авторством: Parphenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Parphenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2016)
A study of applications of nanotexturized sapphire as a template for MOCVD-heteroepitaxy of III-nitrides
за авторством: Sukhovii, N. O., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Sukhovii, N. O., та інші
Опубліковано: (2018)
A study of applications of nanotexturized sapphire as a template for MOCVD-heteroepitaxy of III-nitrides
за авторством: N. O. Sukhovii, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: N. O. Sukhovii, та інші
Опубліковано: (2018)
Polishing of AlN/sapphire substrates obtained by thermochemical nitridation of sapphire
за авторством: Vovk, E.A., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Vovk, E.A., та інші
Опубліковано: (2013)
Manufacture of sapphire ribbons with low dislocation density
за авторством: Safronov, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Safronov, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)
Growing of heteroepitaxial layers on lattice mismatched substrates by the method of scanning liquid phase epitaxy
за авторством: V. V. Tsybulenko, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. V. Tsybulenko, та інші
Опубліковано: (2020)
XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2011)
Crystal lattice engineering the novel substrates for III-nitride-oxide heterostructures
за авторством: V. Osinsky, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. Osinsky, та інші
Опубліковано: (2010)
Crystal lattice engineering the novel substrates for III-nitride-oxide heterostructures
за авторством: Osinsky, V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Osinsky, V., та інші
Опубліковано: (2010)
Mechanism of AlN film formation at thermochemical nitridization of sapphire
за авторством: Kaltaev, Kh.Sh.-ogly, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Kaltaev, Kh.Sh.-ogly, та інші
Опубліковано: (2011)
Polishing substrates of single crystal silicon carbide and sapphire for optoelectronics
за авторством: Filatov, O.Yu., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Filatov, O.Yu., та інші
Опубліковано: (2016)
Mechanisms of contact resistance formation in ohmic contacts with high dislocation density (review)
за авторством: A. V. Sachenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. V. Sachenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Two-layered quasioptical sapphire resonator for bio-liquids dielectrometry
за авторством: A. A. Barannik, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: A. A. Barannik, та інші
Опубліковано: (2017)
Simulation of strain fields in GaSb/InAs heteroepitaxial system
за авторством: Shutov, S.V., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Shutov, S.V., та інші
Опубліковано: (2006)
On the prospects of using porous indium phosphide as substrates for indium nitride films
за авторством: Ja. A. Sychikova
Опубліковано: (2010)
за авторством: Ja. A. Sychikova
Опубліковано: (2010)
Dislocation mechanisms of microcracking. A review
за авторством: V. R. Skalskyi, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. R. Skalskyi, та інші
Опубліковано: (2012)
Wettability of sapphire
за авторством: Voloshyn, O.V., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Voloshyn, O.V., та інші
Опубліковано: (2006)
Structure perfection of bulk and near-surface layers in sapphire single crystals
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2007)
Fluctuations of piezoelectric polarization in III-nitride quantum wells
за авторством: A. V. Zinovchuk, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: A. V. Zinovchuk, та інші
Опубліковано: (2023)
Fluctuations of piezoelectric polarization in III-nitride quantum wells
за авторством: A. V. Zinovchuk, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: A. V. Zinovchuk, та інші
Опубліковано: (2023)
Study of the state of the working surface of the tool at polishing the substrate from nitride aluminum
за авторством: Yu. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2018)
Impact fragmentation of sapphire
за авторством: P. V. Konevskij, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: P. V. Konevskij, та інші
Опубліковано: (2015)
Peculiarity of sapphire application in medicine
за авторством: Lytvynov, L.A.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Lytvynov, L.A.
Опубліковано: (2014)
Influence of crystal growth conditions and carbothermal treatment on activator charge state in Ti:sapphire
за авторством: Nizhankovskiy, S.V., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Nizhankovskiy, S.V., та інші
Опубліковано: (2018)
Elastic strains influence during GaSb/InAs heteroepitaxy from liquid phase
за авторством: Shutov, S.V., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Shutov, S.V., та інші
Опубліковано: (2006)
Chemical bonding and optical bowing in III-nitrides solid solutions
за авторством: Voznyy, O.V., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Voznyy, O.V., та інші
Опубліковано: (2003)
Potentialities for sapphire strength enhancement
за авторством: Voloshyn, O.V., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Voloshyn, O.V., та інші
Опубліковано: (2007)
Change of dislocations density in single crystals of various types diamonds depending on the growth temperature and rate
за авторством: Suprun, O.M., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Suprun, O.M., та інші
Опубліковано: (2016)
Investigation of electrical c haracteristics of heteroepitaxial structures as a function of microrelief and manufacturing technology features
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2005)
On the words used as names for ruby and sapphire
за авторством: Lytvynov, L.A.
Опубліковано: (2011)
за авторством: Lytvynov, L.A.
Опубліковано: (2011)
Filamentation of femtosecond vortex beam in sapphire
за авторством: I. V. Blonskyi, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. V. Blonskyi, та інші
Опубліковано: (2013)
Filamentation of femtosecond vortex beam in sapphire
за авторством: I. V. Blonskyi, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. V. Blonskyi, та інші
Опубліковано: (2013)
The effect of a refrigerant on the efficiency of machining sapphire
за авторством: A. V. Voloshin, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. V. Voloshin, та інші
Опубліковано: (2013)
Anisotropy of deformation and fracture processes in sapphire surface
за авторством: A. V. Voloshin, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. V. Voloshin, та інші
Опубліковано: (2015)
Dependence of sapphire hardness on loading type and orientation
за авторством: Sinani, A.B., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Sinani, A.B., та інші
Опубліковано: (2009)
Two-layer films Cu/Ni nanoparticles/substrate
за авторством: V. O. Zlenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. O. Zlenko, та інші
Опубліковано: (2011)
Resistance formation mechanisms for contacts and to n-AlN and n-GaN with a high dislocation density
за авторством: A. V. Sachenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: A. V. Sachenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Sapphire subdivision at different heat treating types
за авторством: Brodskii, R.Ye., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Brodskii, R.Ye., та інші
Опубліковано: (2017)
Structure of aluminum nitride layers formed under ion-plasma spraying
за авторством: Z. A. Duriahina, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Z. A. Duriahina, та інші
Опубліковано: (2013)
Residual stresses in the structural steel layers nitrided in decaying discharge
за авторством: M. S. Stechyshyn, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: M. S. Stechyshyn, та інші
Опубліковано: (2018)
Схожі ресурси
-
Lowering the density of dislocations in heteroepitaxial III-nitride layers: Effect of sapphire substrate treatment (review)
за авторством: Parphenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2016) -
A study of applications of nanotexturized sapphire as a template for MOCVD-heteroepitaxy of III-nitrides
за авторством: Sukhovii, N. O., та інші
Опубліковано: (2018) -
A study of applications of nanotexturized sapphire as a template for MOCVD-heteroepitaxy of III-nitrides
за авторством: N. O. Sukhovii, та інші
Опубліковано: (2018) -
Polishing of AlN/sapphire substrates obtained by thermochemical nitridation of sapphire
за авторством: Vovk, E.A., та інші
Опубліковано: (2013) -
Manufacture of sapphire ribbons with low dislocation density
за авторством: Safronov, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)