Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2016
Автори: V. V. Voitovych, R. M. Rudenko, V. O. Yukhymchuk, M. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. H. Kolosiuk, Yu. Povarchuk, I. M. Khatsevych, M. P. Rudenko
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2016
Назва видання:Ukrainian Journal of Physics
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000732704
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозиторії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS