Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yukhymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. H., . . . Rudenko, M. P. (2016). Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Voitovych, V. V., R. M. Rudenko, V. O. Yukhymchuk, M. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. H. Kolosiuk, Yu Povarchuk, I. M. Khatsevych, und M. P. Rudenko. Effect of Tin on Structural Transformations in the Thin-film Silicon Suboxide Matrix. 2016.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Voitovych, V. V., et al. Effect of Tin on Structural Transformations in the Thin-film Silicon Suboxide Matrix. 2016.
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