Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
Збережено в:
| Дата: | 2015 |
|---|---|
| Автори: | A. Goriachko, S. P. Kulyk, P. V. Melnik, M. G. Nakhodkin |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2015
|
| Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000701099 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)
New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)
New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)
A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2016)
Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2013)
Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)
A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Horiachko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. Horiachko, та інші
Опубліковано: (2016)
Study of Structural-Relaxation Processes on Surface of Amorphous Fe77Si8B15 Alloy by the Methods of Scanning Tunnelling Microscopy and Spectroscopy
за авторством: V. L. Karbovskij, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. L. Karbovskij, та інші
Опубліковано: (2012)
Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008)
Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)
Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface
за авторством: P. Galiy, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: P. Galiy, та інші
Опубліковано: (2015)
Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe1-xTex
за авторством: T. Ekino, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: T. Ekino, та інші
Опубліковано: (2013)
The possibility to determine a constant of spin-orbit interaction by scanning tunneling microscopy method
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)
New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)
Surface and electron structure of the 6H-SiC(0001)-(3Ч3) surface and ultrathin Ag films on Si(111) and Si(001)
за авторством: V. A. Gasparov
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. A. Gasparov
Опубліковано: (2011)
Investigation of Ag2O–B2O3-system glass by means of the method of scanning tunnelling microscopy with semicon-ducting diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012)
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012)
Atomic structures and nanoscale electronic states on the surface of MgB2 superconductor observed by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
за авторством: A. Sugimoto, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. Sugimoto, та інші
Опубліковано: (2019)
Adsorption of molecular oxygen onto Si1-xGex/Si(001) surface
за авторством: A. A. Greenchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: A. A. Greenchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
Adsorption of molecular oxygen onto Si1-xGex/Si(001) surface
за авторством: O. A. Hrynchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. A. Hrynchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
Surface stresses at the initial steps of the GexSi1-x/Si(001) surface oxidation
за авторством: A. A. Grynchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. A. Grynchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
New materials for luminescent scanning near-field microscopy
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
In situ scanning electron microscopy study of fatigue crack propagation
за авторством: Jacobsson, L., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Jacobsson, L., та інші
Опубліковано: (2008)
Drift correction of the analyzed area during the study of the lateral elemental composition distribution in single semiconductor nanostructures by scanning Auger microscopy
за авторством: Ponomaryov, S.S., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Ponomaryov, S.S., та інші
Опубліковано: (2016)
Drift correction of the analyzed area during the study of the lateral elemental composition distribution in single semiconductor nanostructures by scanning Auger microscopy
за авторством: S. S. Ponomaryov, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: S. S. Ponomaryov, та інші
Опубліковано: (2016)
Scanning near-field optical microscopy of magnetic structures in magnetic films
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)
Thermodynamic calculation of the phase diagram of the Si–C system up to 8 GPa
за авторством: V. Z. Turkevych, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. Z. Turkevych, та інші
Опубліковано: (2016)
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)
Interaction of molecular oxygen with Si(001) surface covered with a chromium or titanium monolayer
за авторством: I. P. Koval, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: I. P. Koval, та інші
Опубліковано: (2015)
Interaction of molecular oxygen with Si(001) surface covered with a chromium or titanium monolayer
за авторством: I. P. Koval, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: I. P. Koval, та інші
Опубліковано: (2015)
Microstructure of the relaxed (001) Si surface
за авторством: Kiv, A.E., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Kiv, A.E., та інші
Опубліковано: (2000)
Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)
7Li(15N, 14C)8Be reaction and 13,14C + 8Be nuclei interactions
за авторством: A. T. Rudchyk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: A. T. Rudchyk, та інші
Опубліковано: (2017)
Intrinsic nanostructures on the (001) surface of strontium titanate at low temperatures
за авторством: V. O. Hamalii, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. O. Hamalii, та інші
Опубліковано: (2020)
STM data: Gold Nanoreliefs on Van der Waals Surfaces of InSe Semiconductor Single Crystals Obtained by High-Resolution Scanning Tunneling Microscopy Methods
за авторством: Karbivskyy Volodymyr, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: Karbivskyy Volodymyr, та інші
Опубліковано: (2024)
Studies of topological features of the surface relief formation of titanium nitride films on silicon substrates during the diffusion mass transfer and on annealing using scanning tunneling microscopy
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2013)
Термодинамічний розрахунок діаграми стану системи Si–C при тисках до 8 ГПа
за авторством: Туркевич, В.З., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Туркевич, В.З., та інші
Опубліковано: (2016)
Study of phase transformations in silicon by scanning tunneling spectroscopy and nanoindentation
за авторством: O. G. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: O. G. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Study of the interaction of atoms of the IV- and V-th groups with Si(001) and Ge(001) surfaces
за авторством: T. V. Afanasieva
Опубліковано: (2015)
за авторством: T. V. Afanasieva
Опубліковано: (2015)
Схожі ресурси
-
Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015) -
New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015) -
New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015) -
A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2016) -
Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2013)