Polarized radiation interferometry research of thermoelasticity in silicon crystal with the use of modulation polarimetry
Збережено в:
| Дата: | 2015 |
|---|---|
| Автор: | I. A. Minailova |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2015
|
| Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000701115 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Polarized radiation interferometry research of thermoelasticity in silicon crystal with the use of modulation polarimetry
за авторством: I. A. Minailova
Опубліковано: (2015)
за авторством: I. A. Minailova
Опубліковано: (2015)
Component analysis of radiation-induced thermoelasticity using modulation polarimetry
за авторством: Ye. Matiash, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Ye. Matiash, та інші
Опубліковано: (2018)
Component analysis of radiation-induced thermoelasticity using modulation polarimetry
за авторством: Ye. Matyash, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Ye. Matyash, та інші
Опубліковано: (2018)
Modelling of dual-polarization interferometry in stellarators
за авторством: Filippov, V., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Filippov, V., та інші
Опубліковано: (2019)
Measurements of plasma density in URAGAN-3M torsatron using dual-polarization interferometry
за авторством: Grekov, D.L, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Grekov, D.L, та інші
Опубліковано: (2012)
Mathematical modeling and polarimetry of the thermal stress state in semitransparent solid taking into account the influence of thermal radiation
за авторством: O. R. Hachkevych, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: O. R. Hachkevych, та інші
Опубліковано: (2020)
Thermoelasticity in Ge due to nonuniform distribution of doping impurity studied by light polarization modulation technique
за авторством: Serdega, B.K., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Serdega, B.K., та інші
Опубліковано: (1999)
Modulation polarimetry of full internal reflection, broken by diamond-like films
за авторством: L. S. Maksimenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: L. S. Maksimenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Modulation polarimetry of surface plasmon resonance as the means determining the dielectric properties of gases
за авторством: I. E. Matjash
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. E. Matjash
Опубліковано: (2014)
Fourier-Stokes polarimetry of fields corresponding to linearly and circularly polarized birefringent protein networks
за авторством: A. O. Karachevtsev
Опубліковано: (2012)
за авторством: A. O. Karachevtsev
Опубліковано: (2012)
Fourier-Stokes polarimetry of fields corresponding to linearly and circularly polarized birefringent protein networks
за авторством: Karachevtsev, A.O.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Karachevtsev, A.O.
Опубліковано: (2012)
Coherent polarization radiation of relativistic electrons in crystals
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2014)
Database of satellite polarimetry
за авторством: S. V. Zaitsev, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: S. V. Zaitsev, та інші
Опубліковано: (2013)
Database of satellite polarimetry
за авторством: Zaitsev, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Zaitsev, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
Radiation destruction and internal friction in silicon single crystals
за авторством: Ryzhikov, V.D., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Ryzhikov, V.D., та інші
Опубліковано: (2004)
Polarimetry of Saturnian satellite Enceladus
за авторством: S. V. Zaitsev, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. V. Zaitsev, та інші
Опубліковано: (2015)
Polarimetry of Saturnian satellite Enceladus
за авторством: Zaitsev, S.V., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Zaitsev, S.V., та інші
Опубліковано: (2015)
Increasing the radiation resistance of single-crystal silicon epitaxial layers
за авторством: Sh. D. Kurmashev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Sh. D. Kurmashev, та інші
Опубліковано: (2014)
Component analysis of phonon spectra dychroidism in uniaxially deformed silicon crystal
за авторством: Ye. Matiash, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Ye. Matiash, та інші
Опубліковано: (2018)
Diagnostics of structures using methods of electron shearography and speckle-interferometry
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2013)
Autofluorescent polarimetry in diagnostics of endometriosis and infertility
за авторством: A. G. Ushenko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. G. Ushenko, та інші
Опубліковано: (2015)
Mueller polarimetry of discontinuous gold films
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Mueller polarimetry of discontinuous gold films
за авторством: Makarenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Makarenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2019)
Vertical displacement monitoring technique using radar interferometry data
за авторством: Orlenko, Tetiana
Опубліковано: (2023)
за авторством: Orlenko, Tetiana
Опубліковано: (2023)
Magnetic Field Polarimetry of Seismic Sources
за авторством: Prosvirnin, S. L.
Опубліковано: (2013)
за авторством: Prosvirnin, S. L.
Опубліковано: (2013)
Notes on coherent polarization X-ray radiation by relativistic electrons in a crystal
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2019)
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2019)
Linear polarization of photons produced by the electrons moving along the crystallographic plane in a silicon crystal
за авторством: Denyak, V.V., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Denyak, V.V., та інші
Опубліковано: (2001)
Spectrometric registration of x-ray and gamma radiation by detecting modules “silicon planar detector - scintillator”
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2022)
Experimental study of inhomogeneous reflex-discharge plasma using microwave refraction interferometry
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2018)
Experimental study of inhomogeneous reflex-discharge plasma using microwave refraction interferometry
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2018)
Holographic interferometry under phase distortions
за авторством: Derzhypolska, L.A., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Derzhypolska, L.A., та інші
Опубліковано: (2006)
Retrieving the surface relief components using phase-shifting interferometry and Gaussian filter
за авторством: I. V. Stasyshyn, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: I. V. Stasyshyn, та інші
Опубліковано: (2018)
MODELING OF ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF A SILICON PHOTOVOLTAIC MODULE EQUIPPED WITH A SOLAR RADIATION CONCENTRATOR
за авторством: Kuznietsov , M.
Опубліковано: (2025)
за авторством: Kuznietsov , M.
Опубліковано: (2025)
Polarization properties of the luminescence from silicon nanocrystals
за авторством: Diener, J., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Diener, J., та інші
Опубліковано: (2000)
Optical reflectometer based on the method of spectral interferometry
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2015)
Simulation and automatization of measurements process in laser interferometry
за авторством: Morozov, N.V.
Опубліковано: (2005)
за авторством: Morozov, N.V.
Опубліковано: (2005)
Simulation and automatization of measurements process in laser interferometry
за авторством: Morozov, N.V.
Опубліковано: (2005)
за авторством: Morozov, N.V.
Опубліковано: (2005)
Radiation-induced effects in silicon
за авторством: Gaidar, G.P., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Gaidar, G.P., та інші
Опубліковано: (2019)
Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)
Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)
Схожі ресурси
-
Polarized radiation interferometry research of thermoelasticity in silicon crystal with the use of modulation polarimetry
за авторством: I. A. Minailova
Опубліковано: (2015) -
Component analysis of radiation-induced thermoelasticity using modulation polarimetry
за авторством: Ye. Matiash, та інші
Опубліковано: (2018) -
Component analysis of radiation-induced thermoelasticity using modulation polarimetry
за авторством: Ye. Matyash, та інші
Опубліковано: (2018) -
Modelling of dual-polarization interferometry in stellarators
за авторством: Filippov, V., та інші
Опубліковано: (2019) -
Measurements of plasma density in URAGAN-3M torsatron using dual-polarization interferometry
за авторством: Grekov, D.L, та інші
Опубліковано: (2012)