Зображення обкладинки

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2021
Автори:	K. M. Al-Adamat, H. M. El-Nasser
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2021
Назва видання:	Ukrainian journal of physics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001276409
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Magnetic anisotropy in Fe phthalocyanine film deposited on Si(110) substrate: standing configuration
за авторством: Bartolomé, J., та інші
Опубліковано: (2017)

Magnetic anisotropy in Fe phthalocyanine film deposited on Si(110) substrate: standing configuration
за авторством: J. Bartolomй, та інші
Опубліковано: (2017)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2005)

IR spectroscopic study of thin ZnO films grown using the atomic layer deposition method
за авторством: Ye. F. Venher, та інші
Опубліковано: (2016)

IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2016)

Characterization of nanoscaled films on flat and grating substrates as some elements of plasmonics
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2007)

Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
за авторством: T. A. Mishakova, та інші
Опубліковано: (2011)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)

Nature and kinetics of non-stationary light absorption induced by femtosecond laser pulses in lead phthalocyanine and chloro-aluminum-chloro-phthalocyanine films
за авторством: M. P. Gorishnyi
Опубліковано: (2013)

Nature and kinetics of non-stationary light absorption induced by femtosecond laser pulses in lead phthalocyanine and chloro-aluminum-chloro-phthalocyanine films
за авторством: M. P. Horishnyi
Опубліковано: (2013)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: Amer, H.H., та інші
Опубліковано: (2011)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: H. H. Amer, та інші
Опубліковано: (2011)

Effect of microwave electromagnetic radiation on the structure, photoluminescence and electronic properties of nanocrystalline silicon films on silicon substrate
за авторством: Kaganovich, E.B., та інші
Опубліковано: (2003)

Sensing to gases of structures silicide cobalt-porous silicon-silicon
за авторством: I. V. Belousov, та інші
Опубліковано: (2006)

Thin polyaniline films on a polyethylene terephthalate substrate as Cr(VI) adsorbents
за авторством: Yu. Stetsiv, та інші
Опубліковано: (2021)

Effect of substrate temperature on structural and substructural properties of MgO thin films
за авторством: Diachenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2015)

Spatial characterization of the edge barrier in wide superconducting thin films
за авторством: A. G. Sivakov, та інші
Опубліковано: (2018)

Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Najafov, та інші
Опубліковано: (2013)

Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Nadzhafov, та інші
Опубліковано: (2013)

Doping by silicon and photovoltaic properties of thin thulium sesquisulfide films
за авторством: Z. U. Dzhabua, та інші
Опубліковано: (2014)

Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
за авторством: A. D. Pogrebnyak, та інші
Опубліковано: (2011)

Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
за авторством: Pogrebnyak, A.D., та інші
Опубліковано: (2011)

SYNTHESIS, X-RAY CRYSTAL STRUCTURE, SPECTROSCOPIC CHARACTERIZATION AND HIRSHFELD SURFACE ANALYSIS OF DICHLORO-BIS(3,5-DIMETHYL-4-AMINO-1H-PYRAZOLE) COBALT(II)
за авторством: Davydenko , Yuliya, та інші
Опубліковано: (2022)

Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)

Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film
за авторством: Oberemok, O.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
за авторством: M. V. Vuichyk, та інші
Опубліковано: (2014)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
за авторством: Vuichyk, M.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)

Interaction mechanism between thin films of iron group Fe, Co, Ni and polyethyleneterephthalate as substrate
за авторством: K. O. Shapoval, та інші
Опубліковано: (2017)

Structure, spectroscopic and thermal characterization of bis(acetylacetonato) dichlorotin (IV) synthesized in aqueous solution
за авторством: Ulug, B., та інші
Опубліковано: (2010)