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Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2014
Hauptverfasser:	V. M. Rubish, V. O. Stefanovich, V. M. Maryan, O. A. Mykaylo, P. P. Shtets, D. I. Kaynts, I. M. Yurkin
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2014
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000352575
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