Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2013
Автори: I. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, I. P. Yaremiy, Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, I. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2013
Назва видання:Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000352308
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозиторії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS