Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автори: | I. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, I. P. Yaremiy, Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, I. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000352308 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
за авторством: Fodchuk, I.M., та інші
Опубліковано: (2013) -
Effect of deuterium implantation dose on properties of CrN coatings
за авторством: Kuprin, A.S., та інші
Опубліковано: (2017) -
Ion beam technologies of surface modification. I. Ion cleaning and high dose implantation
за авторством: V. A. Belous, та інші
Опубліковано: (2003) -
Fractionated low-dose radiation exposure potentiates proliferation of implanted tumor cells
за авторством: Gerashchenko, B.I., та інші
Опубліковано: (2013) -
Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)