Change of Structure and Optical Properties of Multilayer C/Si X-Ray Mirrors under Heating
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | I. A. Zhuravel, E. A. Bugaev, D. L. Voronov, V. V. Kondratenko |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2013
|
| Назва видання: | Metallophysics and advanced technologies |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000518626 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)
Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)
Features of the formation of multilayered nanoscale Co/C coatings when creating an X-ray imaging system operating at a wavelength λ = 4,86 nm
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2012)
Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: I. O. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: I. O. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2012)
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
Study of the structural features of multilayer carbon nanotubes by X-ray analysis
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)
X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)
Structure and mechanical stresses in TaSi₂/Si multilayer
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Quantum effects in multilayer Si-Ge nanoheterostructures
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Materials for optical sensors of X-ray irradiation based on (GaxIn1 – x)2Se3 films
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
Materials for optical sensors of X-ray irradiation based on (GaxIn1 – x)2Se3 films
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
Plasma diagnostics in the optical and X-ray regions on the plasma focus device PF-4 (installation Tyulpan)
за авторством: Eliseev, S.P., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Eliseev, S.P., та інші
Опубліковано: (2006)
Heat conduction in plate with thin double-sided multilayer coating under nonstationary heating
за авторством: V. A. Shevchuk
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. A. Shevchuk
Опубліковано: (2015)
Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
Initial stages of intermixing in Mo/Si multilayer coatings during He ion irradiation
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)
Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
за авторством: Semenov, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Semenov, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)
Crystallization study of (As2S3)100-x(SbSI)x amorphous filmsby the optical method
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2012)
The physico-topological simulation of a transmission X-ray tube with induction heating of the cathode
за авторством: Maikut, S.O., та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: Maikut, S.O., та інші
Опубліковано: (2023)
Oxidative metabolism testis state under the influence of nitrate intoxication and x-rays.
за авторством: B. O. Shatalin, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: B. O. Shatalin, та інші
Опубліковано: (2014)
Portable X-ray TV system
за авторством: V. A. Troitskij
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. A. Troitskij
Опубліковано: (2013)
Parametric X-ray radiation in polycrystals
за авторством: Alekseev, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Alekseev, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)
Frequency of parametric X-ray radiation
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2023)
Thermoelectric Coolers for X-Ray Detectors
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2020)
Structural-phase transformations in multilayer periodic compositions W-B4C with a period of 2.5 nm with heating
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)
Investigation of the optical and acoustical phonon modes in Si₁₋xGex QD SLs
за авторством: Dzhagan, V.N., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Dzhagan, V.N., та інші
Опубліковано: (2003)
Nanoscale Co/C multilayers for "carbon window" Schwarzchild objective
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)
Effect of the low energy ion bombardment on the optical properties of metallic mirrors
за авторством: Bandourko, V., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Bandourko, V., та інші
Опубліковано: (2000)
Combi-cryostat for x-ray diffractometer
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)
Modelling of X-ray images of digital X-ray-TV system based on scintillation screen and CCD matrix
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)
Development of graded Co/C multilayer coating for imaging system in "carbon window" (λ 4,4 – 5,0 nm)
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2009)
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2009)
High-sensitivity X-ray TV systems based on X-ray screens and CCD cameras with image accumulation
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2009)
Схожі ресурси
-
Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011) -
Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014) -
Features of the formation of multilayered nanoscale Co/C coatings when creating an X-ray imaging system operating at a wavelength λ = 4,86 nm
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2012) -
Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: I. O. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2012) -
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)