Change of Structure and Optical Properties of Multilayer C/Si X-Ray Mirrors under Heating
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | I. A. Zhuravel, E. A. Bugaev, D. L. Voronov, V. V. Kondratenko |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2013
|
| Назва видання: | Metallophysics and advanced technologies |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000518626 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Growth and structure of WC/Si multilayer x-ray mirror
за авторством: Pershyn, Y.P., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Pershyn, Y.P., та інші
Опубліковано: (2018)
Formation and evolution of intermixing zones in C/Si multilayer under heating
за авторством: Zhuravel, I.A., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Zhuravel, I.A., та інші
Опубліковано: (2014)
Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)
Multilayer X-ray mirrors Mo-B₄C- new crystals-analyzers for wavelength range of 5 to 12 A
за авторством: Kopylets, I.A., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Kopylets, I.A., та інші
Опубліковано: (2007)
Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)
Features of the formation of multilayered nanoscale Co/C coatings when creating an X-ray imaging system operating at a wavelength λ = 4,86 nm
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2012)
Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: Zhuravel, I.O., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Zhuravel, I.O., та інші
Опубліковано: (2012)
Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: I. O. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: I. O. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2012)
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
Study of the structural features of multilayer carbon nanotubes by X-ray analysis
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)
Optical and colorimetrical characteristics of strained LiF crystals under X-ray irradiation
за авторством: Petchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Petchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2020)
Structure and mechanical stresses in TaSi₂/Si multilayer
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
Quantum effects in multilayer Si-Ge nanoheterostructures
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Investigation of the optical coatings on the dkdp single ctystals by x-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Loya, V.Yu., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Loya, V.Yu., та інші
Опубліковано: (2004)
Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Crystallization study of (As₂S₃)₁₀₀-x(SbSI)x amorphous films by the optical method
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2012)
Heat conduction in plate with thin double-sided multilayer coating under nonstationary heating
за авторством: V. A. Shevchuk
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. A. Shevchuk
Опубліковано: (2015)
Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Materials for optical sensors of X-ray irradiation based on (GaxIn1 – x)2Se3 films
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
Materials for optical sensors of X-ray irradiation based on (GaxIn1 – x)2Se3 films
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)
Initial stages of intermixing in Mo/Si multilayer coatings during He ion irradiation
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)
Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2017)
Effects of long-term ion bombardment on some optical properties of Rh film mirrors and bulk polycrystalline mirrors
за авторством: Bondarenko, V.N., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Bondarenko, V.N., та інші
Опубліковано: (2006)
Electronic structure and x-ray magnetic circular dichroism in the Heusler alloy Co₂FeSi
за авторством: Antonov, V.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Antonov, V.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Effects of water impact on optical properties of metallic mirror samples
за авторством: Konovalov, V.G., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Konovalov, V.G., та інші
Опубліковано: (2019)
Structural-phase transformations in multilayer periodic compositions W-B4C with a period of 2.5 nm with heating
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)
Magneto-optical properties of nanocomposites (Co₄₁Fe₃₉B₂₀)ₓ(SiO₂)₁₀₀₋ₓ
за авторством: Lysiuk, V.O., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Lysiuk, V.O., та інші
Опубліковано: (2020)
Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
Plasma diagnostics in the optical and X-ray regions on the plasma focus device PF-4 (installation Tyulpan)
за авторством: Eliseev, S.P., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Eliseev, S.P., та інші
Опубліковано: (2006)
Nanoscale Co/C multilayers for "carbon window" Schwarzchild objective
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)
Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
за авторством: Semenov, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Semenov, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
Схожі ресурси
-
Growth and structure of WC/Si multilayer x-ray mirror
за авторством: Pershyn, Y.P., та інші
Опубліковано: (2018) -
Formation and evolution of intermixing zones in C/Si multilayer under heating
за авторством: Zhuravel, I.A., та інші
Опубліковано: (2014) -
Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011) -
Multilayer X-ray mirrors Mo-B₄C- new crystals-analyzers for wavelength range of 5 to 12 A
за авторством: Kopylets, I.A., та інші
Опубліковано: (2007) -
Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)