Studies of topological features of the surface relief formation of titanium nitride films on silicon substrates during the diffusion mass transfer and on annealing using scanning tunneling microscopy
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автор: | M. A. Tsysar |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Superhard Materials |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000695825 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Репозиторії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015) -
Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018) -
Investigation of Ag2O–B2O3-system glass by means of the method of scanning tunnelling microscopy with semicon-ducting diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012) -
Studies of topological features of the surface of HFCVD nanocrys-talline diamond film using a scanning tunneling microscope with a diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012) -
Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)