Relaxation changes in the mobility and concentration of charge carriers in Si with deep impurity levels under the action of pulsed pressure

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2012
Автори: O. O. Mamatkarimov, Kh. Khamidov, R. G. Zhabborov, U. A. Tujchiev, Kh. Kuchkarov
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2012
Назва видання:Physical surface engineering
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000908780
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси