Structural properties of nanocomposite SiO2(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2011
Hauptverfasser: O. L. Bratus, A. A. Evtukh, O. S. Lytvyn, M. V. Voitovych, V. O. Yukhymchuk
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2011
Schriftenreihe:Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349503
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