Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: H. H. Amer, M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, R. A. Elshamy
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2011
Назва видання:Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349741
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS