Amer, H. H., Elkordy, M., Zien, M., Dahshan, A., & Elshamy, R. A. (2011). Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Amer, H. H., M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, und R. A. Elshamy. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. 2011.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Amer, H. H., et al. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. 2011.
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