Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2011
Автори:	H. H. Amer, M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, R. A. Elshamy
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2011
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349741
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: Amer, H.H., та інші
Опубліковано: (2011)

Photoinduced etching of thin films of chalcogenide glasses
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films
за авторством: S. A. Iliash, та інші
Опубліковано: (2017)

Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
за авторством: Claudio, D., та інші
Опубліковано: (2005)

Structural investigation of As-Se chalcogenide thin films with different compositions: formation, characterization and peculiarities of volume and near-surface nanolayers
за авторством: Kondrat, O., та інші
Опубліковано: (2017)

Technology optimization of the chloride treatment of cadmium chalcogenide thin films
за авторством: N. M. Kharchenko, та інші
Опубліковано: (2008)

High-speed optical recording in vitreous chalcogenide thin films
за авторством: A. A. Kryuchyn, та інші
Опубліковано: (2014)

The effect of strain on the thermodynamic properties of Ge-Si, Ge-Sn, Si-Sn, Si-C thin solid films
за авторством: Deibuk, V.G., та інші
Опубліковано: (2002)

High-speed optical recording in vitreous chalcogenide thin films
за авторством: Kryuchyn, A.A., та інші
Опубліковано: (2014)

Electrical transport in thin films of glassy Ge₄₀Te₆₀-xSbx alloys
за авторством: Shukla, S., та інші
Опубліковано: (2010)

Optical properties of Ge-As-S thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2009)

Dielectric relaxation in Se₈₀Ge₂₀ and Se₇₅Ge₂₀Ag₅ chalcogenide glasses
за авторством: Dwivedi, A., та інші
Опубліковано: (2005)

Electrical transport in thin films of glassy Ge40Te60-xSbx alloys
за авторством: S. Shukla, та інші
Опубліковано: (2010)

Contact electrodeposition of CdTe thin films
за авторством: Klochko, N.P., та інші
Опубліковано: (2009)

Optical properties and structure of As-Ge-Se thin films
за авторством: I. D. Tolmachov, та інші
Опубліковано: (2010)

Optical properties and structure of As-Ge-Se thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2010)

Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films
за авторством: V. V. Tetyorkin, та інші
Опубліковано: (2015)

Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films
за авторством: Tetyorkin, V.V., та інші
Опубліковано: (2015)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Fabrication, properties and application of Ge-on-GaAs thin nanoheterogeneous films
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2014)

Deposition and characterization of thin Si–B–C–N films by dc reactive magnetron sputtering of composed Si/B₄C target
за авторством: Onoprienko, A.A., та інші
Опубліковано: (2019)

Thin film Si:Eu and Si:Y composites
за авторством: Koval, V.M., та інші
Опубліковано: (2010)

Spatial characterization of the edge barrier in wide superconducting thin films
за авторством: A. G. Sivakov, та інші
Опубліковано: (2018)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2003)

Deposition and characterization of thin Si–B–C–N films by dc reactive magnetron sputtering of composed Si/B4C target
за авторством: A. A. Onoprienko, та інші
Опубліковано: (2019)

Microstructure of thin Si−Sn composite films
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)

Size effects in thin n-PbTe films
за авторством: Men'shikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2014-12-29)

Microstructure of thin Si−Sn composite films
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)

Optical studies of as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2016)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
за авторством: M. V. Vuichyk, та інші
Опубліковано: (2014)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
за авторством: Vuichyk, M.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Thin Film Detector CdTe Structures with Schottky Barrier
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2013)

Low-temperature photoluminescence of thin CdTe, CdTe:In films with an anomalous photovoltaic property
за авторством: Zh. Akhmadaliev, та інші
Опубліковано: (2010)

Raman spectra of Ag- and Cu- photodoped chalcogenide films
за авторством: Stronski, A.V., та інші
Опубліковано: (1999)

Optical recording of information pits in thin layers of chalcogenide semiconductors
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)

Структура чистих Si−Si, Ge−Ge та змішаних аддимерів Si−Ge на поверхні Si(001)
за авторством: Afanasieva, T.V., та інші
Опубліковано: (2022)

Conductivity of the Bi₁₂SiO₂₀ thin ﬁlms
за авторством: Plyaka, S.N., та інші
Опубліковано: (1999)