Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплече...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | Yevich, N. L., Prokopenko, Y. Y. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Видавничий дім «Академперіодика»
2012
|
| Онлайн доступ: | http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Radio physics and radio astronomy |
Репозитарії
Radio physics and radio astronomyСхожі ресурси
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
Nondestructive Method of Measurement of Dielectric Parameters at Microwaves
за авторством: Makeev, Yu. G., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Makeev, Yu. G., та інші
Опубліковано: (2013)
Determination of fiberglass damage by the method of AE scanning
за авторством: S. A. Nedosieka, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: S. A. Nedosieka, та інші
Опубліковано: (2019)
System of control of beam scanning in electron beam welding
за авторством: Ju. N. Lankin, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Ju. N. Lankin, та інші
Опубліковано: (2009)
Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)
The scanning of hadronic cross-section in e⁺e⁻-annihilation by radiative return method
за авторством: Konchatnij, M.I., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Konchatnij, M.I., та інші
Опубліковано: (2001)
Development of a method of absorbed dose on-line monitoring at product processing by scanned electron beam
за авторством: Pomatsalyuk, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Pomatsalyuk, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)
Development of a method of absorbed dose on-line monitoring at product processing by scanned electron beam
за авторством: Pomatsalyuk, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Pomatsalyuk, R.I., та інші
Опубліковано: (2016)
Improvement of accuracy of Eddy current testing of material electric conductivity and dielectric coating thickness of shells
за авторством: Ya. Teterko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ya. Teterko, та інші
Опубліковано: (2013)
Using composite diamond-containing materials structured with carbon binder and ceramic materials based on AlN in microwave radiation absorbers
за авторством: O. V. Leshchenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. V. Leshchenko, та інші
Опубліковано: (2019)
A РС-controlled beam scanning system at the technological electron LINAC
за авторством: Karasyov, S.P., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Karasyov, S.P., та інші
Опубліковано: (2006)
The possibility to determine a constant of spin-orbit interaction by scanning tunneling microscopy method
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)
Programming electron beam scan pattern for welding with heat treatment
за авторством: V. H. Soloviov, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: V. H. Soloviov, та інші
Опубліковано: (2022)
Investigation of dislocations in Ge single crystals by scanning electron beam
за авторством: Nadtochy, V., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Nadtochy, V., та інші
Опубліковано: (2004)
Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
Microwave Dielectric Permeability of Disperse Water Content Environments
за авторством: Hammoud, F. M., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Hammoud, F. M., та інші
Опубліковано: (2013)
Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)
Determination of material parameters and thickness of industrial magnetodielectric and ferrite samples with a metal substrate
за авторством: V. N. Mizernik, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. N. Mizernik, та інші
Опубліковано: (2010)
MICROWAVE DIELECTRICS FOR APPLICATIONS IN THE 5G FR3 RANGE
за авторством: Fedorchuk, Oleksandr, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: Fedorchuk, Oleksandr, та інші
Опубліковано: (2024)
Use of microwave electromagnetic radiation for stimulation of Antheraea pernyi G.-M. productivity
за авторством: V. G. Shakhbazov, та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: V. G. Shakhbazov, та інші
Опубліковано: (1998)
New materials for luminescent scanning near-field microscopy
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)
Determination of the average absorbed energy of electrons beam in objects at radiation processing
за авторством: Lazurik, V.T., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Lazurik, V.T., та інші
Опубліковано: (2019)
Specific features of microwave methods for dusty plasma diagnostics. I. Dielectric permittivity, refractive and absorption indices
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2019)
Specific features of microwave methods for dusty plasma diagnostics. I. Dielectric permittivity, refractive and absorption indices
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Yu. V. Kovtun, та інші
Опубліковано: (2019)
The use of high-current relativistic electron beams for the study of the effects of ionizing radiation on materials storage RAW
за авторством: Klepikov, V.F., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Klepikov, V.F., та інші
Опубліковано: (2016)
Identification of an edge of heterogeneity in a dielectric structure by microwave non-destructive technique
за авторством: V. R. Dzhala
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. R. Dzhala
Опубліковано: (2016)
Development of procedure for determination of wall thickness in NPP pipeline at erosion-corrosion wear of material
за авторством: I. V. Oryniak, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: I. V. Oryniak, та інші
Опубліковано: (2017)
Residual stress calculationin the weld region during welding of thick plates by the electron-beam method
за авторством: V. P. Skalskyi, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. P. Skalskyi, та інші
Опубліковано: (2012)
IAP triple-beam facility for simulation studies of radiation damage of materials
за авторством: Baturin, V.A., та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: Baturin, V.A., та інші
Опубліковано: (2022)
Determination of natural frequencies of an elliptic shell of constant thickness by the finite element method
за авторством: V. D. Budak, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. D. Budak, та інші
Опубліковано: (2014)
Radiation losses in a planar dielectric waveguide with a rough interface between dielectric layers
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
Radiation losses in a planar dielectric waveguide with a rough interface between dielectric layers
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
Identification of liquids in different containers using a microwave planar metamaterial
за авторством: S. V. Nedukh, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: S. V. Nedukh, та інші
Опубліковано: (2017)
Influence of microwave radiation on relaxation processes in silicon carbide
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2020)
Influence of microwave radiation on relaxation processes in silicon carbide
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2020)
Cherenkov radiation of a laser pulse in ion dielectrics
за авторством: Balakirev, V.A., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Balakirev, V.A., та інші
Опубліковано: (2019)
On possibility of high frequency electron beam scanning with application of focusing system for X-ray generation
за авторством: Bondarenko, T.V.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Bondarenko, T.V.
Опубліковано: (2014)
Mathematical model of an excitation by electron beam of “whispering gallery” modes in cylindrical dielectric resonator
за авторством: Galaydych, K.V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Galaydych, K.V., та інші
Опубліковано: (2010)
Identification of liquids in different containers using a microwave planar metamaterial
за авторством: Nedukh, S.V., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Nedukh, S.V., та інші
Опубліковано: (2017)
Magnetic method for determination of the thickness of protective concrete layer and diameter of rebars of building structures
за авторством: A. P. Gusev, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: A. P. Gusev, та інші
Опубліковано: (2017)
Схожі ресурси
-
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014) -
Nondestructive Method of Measurement of Dielectric Parameters at Microwaves
за авторством: Makeev, Yu. G., та інші
Опубліковано: (2013) -
Determination of fiberglass damage by the method of AE scanning
за авторством: S. A. Nedosieka, та інші
Опубліковано: (2019) -
System of control of beam scanning in electron beam welding
за авторством: Ju. N. Lankin, та інші
Опубліковано: (2009) -
Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)