Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплече...
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Yevich, N. L., Prokopenko, Y. Y. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Видавничий дім «Академперіодика»
2012
|
| Online Zugang: | http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Radio physics and radio astronomy |
Institution
Radio physics and radio astronomyÄhnliche Einträge
-
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
von: Ja. Teterko, et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Nondestructive Method of Measurement of Dielectric Parameters at Microwaves
von: Makeev, Yu. G., et al.
Veröffentlicht: (2013) -
Determination of fiberglass damage by the method of AE scanning
von: S. A. Nedosieka, et al.
Veröffentlicht: (2019) -
System of control of beam scanning in electron beam welding
von: Ju. N. Lankin, et al.
Veröffentlicht: (2009) -
Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
von: Ju. E. Gordienko, et al.
Veröffentlicht: (2015)