Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплече...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | Yevich, N. L., Prokopenko, Y. Y. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Видавничий дім «Академперіодика»
2012
|
| Онлайн доступ: | http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/468 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Radio physics and radio astronomy |
Репозитарії
Radio physics and radio astronomyСхожі ресурси
-
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014) -
Nondestructive Method of Measurement of Dielectric Parameters at Microwaves
за авторством: Makeev, Yu. G., та інші
Опубліковано: (2013) -
Determination of fiberglass damage by the method of AE scanning
за авторством: S. A. Nedosieka, та інші
Опубліковано: (2019) -
System of control of beam scanning in electron beam welding
за авторством: Ju. N. Lankin, та інші
Опубліковано: (2009) -
Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)