Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки

Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x були вирощенi за методом Бриджмена–Стокбаргера. Прозорiсть зразкiв ZnSxSe1−x становила вiд 67% до 56% на la = 1100 нм (товщина зразка 4 мм), що вказує на високу оптичну якiсть кристалiв. Оптичнi експерименти показали вiдсутнiсть нових станiв з вкл...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2018
Автори: Trubaieva, O. G., Lalayants, A. I., Chaika, M. A.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2018
Теми:
Онлайн доступ:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018035
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Репозитарії

Ukrainian Journal of Physics
_version_ 1863131130341883904
author Trubaieva, O. G.
Lalayants, A. I.
Chaika, M. A.
author_facet Trubaieva, O. G.
Lalayants, A. I.
Chaika, M. A.
author_sort Trubaieva, O. G.
baseUrl_str https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/oai
collection OJS
datestamp_date 2020-10-19T00:44:31Z
description Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x були вирощенi за методом Бриджмена–Стокбаргера. Прозорiсть зразкiв ZnSxSe1−x становила вiд 67% до 56% на la = 1100 нм (товщина зразка 4 мм), що вказує на високу оптичну якiсть кристалiв. Оптичнi експерименти показали вiдсутнiсть нових станiв з включенням сiрки, заборонена зона безперервно рухається зi складом. Оптична ширина забороненої зони ZnSxSe1−x кристала варiювалася вiд 2,59 до 2,78 еВ для прямих переходiв i вiд 2,49 до 2,70 еВ для непрямих переходiв.
doi_str_mv 10.15407/ujpe63.01.0033
first_indexed 2025-10-02T01:13:51Z
format Article
id ujp2-article-2018035
institution Ukrainian Journal of Physics
keywords_txt_mv keywords
language English
last_indexed 2025-10-02T01:13:51Z
publishDate 2018
publisher Publishing house "Academperiodika"
record_format ojs
spelling ujp2-article-20180352020-10-19T00:44:31Z Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки Band Gap Change of Bulk ZnSxSe1–x Semiconductors by Controlling the Sulfur Content Trubaieva, O. G. Lalayants, A. I. Chaika, M. A. Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x прямі переходи непрямі переходи заборонена зона ZnSxSe1−x bulk crystals direct transitions indirect transitions band gap ZnSxSe1−x bulk crystals direct transitions indirect transitions band gap Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x були вирощенi за методом Бриджмена–Стокбаргера. Прозорiсть зразкiв ZnSxSe1−x становила вiд 67% до 56% на la = 1100 нм (товщина зразка 4 мм), що вказує на високу оптичну якiсть кристалiв. Оптичнi експерименти показали вiдсутнiсть нових станiв з включенням сiрки, заборонена зона безперервно рухається зi складом. Оптична ширина забороненої зони ZnSxSe1−x кристала варiювалася вiд 2,59 до 2,78 еВ для прямих переходiв i вiд 2,49 до 2,70 еВ для непрямих переходiв. ZnSxSe1−x bulk crystals were grown by the Bridgman–Stockbarger method. The transmittance of different samples in the range from 67% to 56% at la = 1100 nm (for 4-mm samples) indicates a high optical quality of the crystals. No new states were revealed at the sulfur incorporation, and the band gap depends on the composition. The optical band gap of ZnSxSe1−x bulk crystals varies from 2.59 to 2.78 eV for direct transitions and from 2.49 to 2.70 eV for indirect transitions. Publishing house "Academperiodika" 2018-02-01 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018035 10.15407/ujpe63.01.0033 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 63 No. 1 (2018); 33-37 Український фізичний журнал; Том 63 № 1 (2018); 33-37 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe63.01 en https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018035/8
spellingShingle Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x
прямі переходи
непрямі переходи
заборонена зона
Trubaieva, O. G.
Lalayants, A. I.
Chaika, M. A.
Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
title Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
title_alt Band Gap Change of Bulk ZnSxSe1–x Semiconductors by Controlling the Sulfur Content
title_full Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
title_fullStr Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
title_full_unstemmed Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
title_short Зміна забороненої зони ZnSxSe1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
title_sort зміна забороненої зони znsxse1–x об’ємних напівпровідників шляхом регулювання вмісту сірки
topic Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x
прямі переходи
непрямі переходи
заборонена зона
topic_facet Об’ємнi кристали ZnSxSe1−x
прямі переходи
непрямі переходи
заборонена зона
ZnSxSe1−x bulk crystals
direct transitions
indirect transitions
band gap
ZnSxSe1−x bulk crystals
direct transitions
indirect transitions
band gap
url https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018035
work_keys_str_mv AT trubaievaog zmínazaboronenoízoniznsxse1xobêmnihnapívprovídnikívšlâhomregulûvannâvmístusírki
AT lalayantsai zmínazaboronenoízoniznsxse1xobêmnihnapívprovídnikívšlâhomregulûvannâvmístusírki
AT chaikama zmínazaboronenoízoniznsxse1xobêmnihnapívprovídnikívšlâhomregulûvannâvmístusírki
AT trubaievaog bandgapchangeofbulkznsxse1xsemiconductorsbycontrollingthesulfurcontent
AT lalayantsai bandgapchangeofbulkznsxse1xsemiconductorsbycontrollingthesulfurcontent
AT chaikama bandgapchangeofbulkznsxse1xsemiconductorsbycontrollingthesulfurcontent