Спектроскопія у зазорі: фаза відбитої хвилі і характеризація плівок
Optical methods that are used to characterize the state of a surface covered with films are based on the measurement of either the ratio between the complex reflection coefficients for mutually orthogonal light polarizations (ellipsometry) or the magnitudes of reflection coefficients themselves; aft...
Збережено в:
Дата: | 2018 |
---|---|
Автор: | Turchin, A. V. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Ukrainian English |
Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2018
|
Теми: | |
Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018592 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозиторії
Ukrainian Journal of PhysicsСхожі ресурси
-
Експериментальне дослідження неоднорідної плазми відбивного розряду за допомогою інтерферометра на основі рефракції мікрохвиль
за авторством: Kovtun, Yu. V., та інші
Опубліковано: (2018) -
Про деякi важливi результати з фiзики поверхнi напiвпровiдникiв, отриманi в Українi за роки Незалежностi (1991–2016)
за авторством: Litovchenko, V. G.
Опубліковано: (2019) -
Розробка технології виготовлення нанорозмірних плівок з неоднорідною структурою методом іонно-плазмового осаджування
за авторством: Normuradov, M.T., та інші
Опубліковано: (2023) -
Роль олова у формуванні мікро- і наноструктури поверхні шаруватих плівок Si–Sn–Si
за авторством: Neimash, V.B., та інші
Опубліковано: (2023) -
Хвильовий рух поверхнi нев’язкої рiдини пiд дiєю сили тяжiння
за авторством: Gandzha, I. S.
Опубліковано: (2019)