Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю
The processes of crystallization of amorphous silicon (a-Si) in the a-SiOxSn (1 ≤ x ≤ 2) sub-oxide matrix have been studied. The temperature, at which the crystallization begins, is shown to be lower for a-SiOxSn films with higher tin contents. For specimens with the maximum tin content (about 2 vol...
Gespeichert in:
| Datum: | 2019 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Publishing house "Academperiodika"
2019
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019014 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |