Пропозицiя структури графен/Ge(111) на основi дослiдження методом скануючої тунельної мiкроскопiї у надвисокому вакуумi

• Datum: 2019
• Hauptverfasser: Goriachko, A., Melnik, P. V., Nakhodkin, M. G.
• Format: Artikel
• Sprache: Englisch; Ukrainisch
• Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2019
• Schlagworte: германiй; графен; сканувальна тунельна мiкроскопiя
• Online Zugang: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019131
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

We report on the 5.5√3 × 5.5√3 − R30 ∘ overlayer superstructure observed by the scanning tunneling microscopy on the Ge(111) surface. It shows pronounced effects of the local density of states leading to the strong dependence of STM images on the bias voltage and some dynamic changes of images at 30...