Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок

The thickness dependence of the surface roughness and the grain size of nanosilicon films, produced by low-pressure chemical vapour deposition, has been found, by using atomic force microscopy. A correlation between the surface roughness, grain size, and transformation of a film structure from the e...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2019
Main Authors: Nakhodkin, N. G., Rodionova, T. V., Sutyagina, A. S.
Format: Article
Language:English
Ukrainian
Published: Publishing house "Academperiodika" 2019
Subjects:
Online Access:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics
_version_ 1863131307667619840
author Nakhodkin, N. G.
Rodionova, T. V.
Sutyagina, A. S.
author_facet Nakhodkin, N. G.
Rodionova, T. V.
Sutyagina, A. S.
author_sort Nakhodkin, N. G.
baseUrl_str https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/oai
collection OJS
datestamp_date 2019-04-11T08:02:37Z
description The thickness dependence of the surface roughness and the grain size of nanosilicon films, produced by low-pressure chemical vapour deposition, has been found, by using atomic force microscopy. A correlation between the surface roughness, grain size, and transformation of a film structure from the equiaxial structure into a fibrous one is established. Possible mechanisms of surface evolution are analyzed.
doi_str_mv 10.15407/ujpe60.02.0165
first_indexed 2025-10-02T01:16:20Z
format Article
id ujp2-article-2019277
institution Ukrainian Journal of Physics
keywords_txt_mv keywords
language English
Ukrainian
last_indexed 2025-10-02T01:16:20Z
publishDate 2019
publisher Publishing house "Academperiodika"
record_format ojs
spelling ujp2-article-20192772019-04-11T08:02:37Z Mechanisms of Surface Evolution During the Growth of Undoped Nanosilicon Films Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок Nakhodkin, N. G. Rodionova, T. V. Sutyagina, A. S. нанокремнiєвi плiвки поверхневi неоднорiдностi рiст зерен механiзм росту зерен атомна силова мiкроскопiя nanosilicon films surface roughness grain growth mechanism of grain growth atomic force microscopy - The thickness dependence of the surface roughness and the grain size of nanosilicon films, produced by low-pressure chemical vapour deposition, has been found, by using atomic force microscopy. A correlation between the surface roughness, grain size, and transformation of a film structure from the equiaxial structure into a fibrous one is established. Possible mechanisms of surface evolution are analyzed. Методом атомної силової мiкроскопiї дослiджено вплив товщини нелегованих нанокремнiєвих плiвок, що отриманi методом хiмiчного осадження в реакторi зниженого тиску, на характеристики їх поверхневого мiкрорельєфу. Встановлена кореляцiя мiж зростанням розмiрiв неоднорiдностей мiкрорельєфу поверхнi плiвок та змiною типу структури плiвок вiд рiвноосьової до волокнистої. Проаналiзовано iмовiрнi механiзми еволюцiї поверхнi нанокремнiєвих плiвок. Publishing house "Academperiodika" 2019-01-22 Article Article Peer-reviewed Рецензована стаття application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277 10.15407/ujpe60.02.0165 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 60 No. 2 (2015); 165 Український фізичний журнал; Том 60 № 2 (2015); 165 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe60.02 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277/1282 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277/1283 Copyright (c) 2019 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine
spellingShingle нанокремнiєвi плiвки
поверхневi неоднорiдностi
рiст зерен
механiзм росту зерен
атомна силова мiкроскопiя
Nakhodkin, N. G.
Rodionova, T. V.
Sutyagina, A. S.
Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
title Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
title_alt Mechanisms of Surface Evolution During the Growth of Undoped Nanosilicon Films
title_full Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
title_fullStr Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
title_full_unstemmed Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
title_short Механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
title_sort механiзми еволюцiї поверхнi при ростi нелегованих нанокремнiєвих плiвок
topic нанокремнiєвi плiвки
поверхневi неоднорiдностi
рiст зерен
механiзм росту зерен
атомна силова мiкроскопiя
topic_facet нанокремнiєвi плiвки
поверхневi неоднорiдностi
рiст зерен
механiзм росту зерен
атомна силова мiкроскопiя
nanosilicon films
surface roughness
grain growth
mechanism of grain growth
atomic force microscopy
-
url https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277
work_keys_str_mv AT nakhodkinng mechanismsofsurfaceevolutionduringthegrowthofundopednanosiliconfilms
AT rodionovatv mechanismsofsurfaceevolutionduringthegrowthofundopednanosiliconfilms
AT sutyaginaas mechanismsofsurfaceevolutionduringthegrowthofundopednanosiliconfilms
AT nakhodkinng mehanizmievolûciípoverhniprirostinelegovanihnanokremniêvihplivok
AT rodionovatv mehanizmievolûciípoverhniprirostinelegovanihnanokremniêvihplivok
AT sutyaginaas mehanizmievolûciípoverhniprirostinelegovanihnanokremniêvihplivok