Оптичні та електричні властивості Tb–ZnO/SiO2 в ІЧ-області спектра

Optical and electrophysical properties of terbium-doped zinc oxide films have been studied, by using the external reflection IR spectroscopy. The films were deposited onto silicon oxide substrates with the help of the magnetron sputtering method. A theoretical analysis of the reflection spectra of t...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2019
Hauptverfasser: Melnichuk, O. V., Melnichuk, L. Yu., Korsunska, N. O., Khomenkova, L. Yu., Venger, Ye. F.
Format: Artikel
Sprache:English
Ukrainian
Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2019
Schlagworte:
Online Zugang:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019335
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Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics