Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії

• Дата: 2021
• Автори: Al-Adamat, K.M., El-Nasser, H.M.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2021
• Теми: spectroscopic ellipsometry; cobalt phthalocyanine; optical constants; Gaussian oscillators; uniaxial material; Thin Films; спектроскопiчна елiпсометрiя; фталоцианiн кобальту; оптичнi константи; гаусовi осцилятори; одноосний матерiал
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020223
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

The cobalt phthalocyanine film (CoPc) was prepared by an ultra-high vacuum system onto a silicon substrate. Structural features and optical properties of the organic semiconductor CoPc has been determined with the use of spectroscopic ellipsometry over the wavelength interval 300–1000 nm. By restric...