Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії

The cobalt phthalocyanine film (CoPc) was prepared by an ultra-high vacuum system onto a silicon substrate. Structural features and optical properties of the organic semiconductor CoPc has been determined with the use of spectroscopic ellipsometry over the wavelength interval 300–1000 nm. By restric...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2021
Hauptverfasser: Al-Adamat, K.M., El-Nasser, H.M.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2021
Schlagworte:
Online Zugang:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020223
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics