Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії
The cobalt phthalocyanine film (CoPc) was prepared by an ultra-high vacuum system onto a silicon substrate. Structural features and optical properties of the organic semiconductor CoPc has been determined with the use of spectroscopic ellipsometry over the wavelength interval 300–1000 nm. By restric...
Збережено в:
| Дата: | 2021 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2021
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020223 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозитарії
Ukrainian Journal of Physics| id |
ujp2-article-2020223 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
ujp2-article-20202232021-08-04T08:54:38Z Characterization of Cobalt Phthalocyanine Thin Film on Silicon Substrate Using Spectroscopic Ellipsometry Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії Al-Adamat, K.M. El-Nasser, H.M. spectroscopic ellipsometry cobalt phthalocyanine optical constants Gaussian oscillators uniaxial material Thin Films спектроскопiчна елiпсометрiя фталоцианiн кобальту оптичнi константи гаусовi осцилятори одноосний матерiал The cobalt phthalocyanine film (CoPc) was prepared by an ultra-high vacuum system onto a silicon substrate. Structural features and optical properties of the organic semiconductor CoPc has been determined with the use of spectroscopic ellipsometry over the wavelength interval 300–1000 nm. By restricting it to 900–1000 nm the film thickness is determined, and, by the point-by-point fit, the behavior of the dielectric function is established in the entire spectral region. Thus, the optical properties are determined from spectral ellipsometric data using mathematical models based on Gaussian oscillators, which have led to an excellent fit to the experimental data with a relatively low mean square error. Cobalt phthalocyanine was treated as a uniaxial material. Плiвку фталоцианiну кобальту (CoPc) на кремнiєвiй пiдкладинцi було виготовлено за допомогою системи з ультрависоким вакуумом. Особливостi структури та оптичнi властивостi органiчного напiвпровiдника CoPc були визначенi методом спектроскопiчної елiпсометрiї в iнтервалi довжин хвиль 300–1000 нм. При обмеженнi цього iнтервалу до 900–1000 нм знайдено товщину плiвки. Поточковою пiдгонкою визначено поведiнку дiелектричної функцiї у всiй спектральнiй областi. Таким чином, оптичнi властивостi були отриманi за даними спектроскопiчної елiпсометрiї iз застосуванням математичних моделей на основi гаусових осциляторiв. Отримано хороший опис експериментальних даних з вiдносно малою середньоквадратичною похибкою. При цьому фталоцианiн кобальту розглядався як одноосний матерiал. Publishing house "Academperiodika" 2021-08-04 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020223 10.15407/ujpe66.7.562 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 66 No. 7 (2021); 562 Український фізичний журнал; Том 66 № 7 (2021); 562 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe66.7 en https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020223/1853 Copyright (c) 2021 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine |
| institution |
Ukrainian Journal of Physics |
| collection |
OJS |
| language |
English |
| topic |
spectroscopic ellipsometry cobalt phthalocyanine optical constants Gaussian oscillators uniaxial material Thin Films спектроскопiчна елiпсометрiя фталоцианiн кобальту оптичнi константи гаусовi осцилятори одноосний матерiал |
| spellingShingle |
spectroscopic ellipsometry cobalt phthalocyanine optical constants Gaussian oscillators uniaxial material Thin Films спектроскопiчна елiпсометрiя фталоцианiн кобальту оптичнi константи гаусовi осцилятори одноосний матерiал Al-Adamat, K.M. El-Nasser, H.M. Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| topic_facet |
spectroscopic ellipsometry cobalt phthalocyanine optical constants Gaussian oscillators uniaxial material Thin Films спектроскопiчна елiпсометрiя фталоцианiн кобальту оптичнi константи гаусовi осцилятори одноосний матерiал |
| format |
Article |
| author |
Al-Adamat, K.M. El-Nasser, H.M. |
| author_facet |
Al-Adamat, K.M. El-Nasser, H.M. |
| author_sort |
Al-Adamat, K.M. |
| title |
Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| title_short |
Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| title_full |
Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| title_fullStr |
Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| title_full_unstemmed |
Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| title_sort |
дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії |
| title_alt |
Characterization of Cobalt Phthalocyanine Thin Film on Silicon Substrate Using Spectroscopic Ellipsometry |
| description |
The cobalt phthalocyanine film (CoPc) was prepared by an ultra-high vacuum system onto a silicon substrate. Structural features and optical properties of the organic semiconductor CoPc has been determined with the use of spectroscopic ellipsometry over the wavelength interval 300–1000 nm. By restricting it to 900–1000 nm the film thickness is determined, and, by the point-by-point fit, the behavior of the dielectric function is established in the entire spectral region. Thus, the optical properties are determined from spectral ellipsometric data using mathematical models based on Gaussian oscillators, which have led to an excellent fit to the experimental data with a relatively low mean square error. Cobalt phthalocyanine was treated as a uniaxial material. |
| publisher |
Publishing house "Academperiodika" |
| publishDate |
2021 |
| url |
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020223 |
| work_keys_str_mv |
AT aladamatkm characterizationofcobaltphthalocyaninethinfilmonsiliconsubstrateusingspectroscopicellipsometry AT elnasserhm characterizationofcobaltphthalocyaninethinfilmonsiliconsubstrateusingspectroscopicellipsometry AT aladamatkm doslídžennâtonkihplívokftalocianínívkobalʹtunakremníêvihpídkladinkahmetodomspektroskopíčnoíelípsometríí AT elnasserhm doslídžennâtonkihplívokftalocianínívkobalʹtunakremníêvihpídkladinkahmetodomspektroskopíčnoíelípsometríí |
| first_indexed |
2023-03-24T08:59:02Z |
| last_indexed |
2023-03-24T08:59:02Z |
| _version_ |
1795757713496473600 |