Оптичні параметри свіжоприготованих та відпалених тонких плівок (Ga0,3In0,7)2Se3

• Дата: 2021
• Автори: Pop, M., Kranjčec, M., Studenyak, I.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2021
• Теми: thin film; spectral ellipsometry; transmission spectra; refractive index; energy pseudogap; Urbach energy; тонка плiвка; спектральна елiпсометрiя; спектри пропускання; показник заломлення; енергiя псевдощiлини; енергiя Урбаха
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021041
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

The (Ga0.3In0.7)2Se3 films deposited by the thermal evaporation technique are annealed in the inert atmosphere (argon) for 1 h at temperatures of 50, 100, and 150 ∘C. The spectral ellipsometry is applied for measuring the spectral dependences of the refractive and extinction coefficients of as-depos...