Електроміграційна модель деградації металооксидних варисторних структур

• Date: 2012
• Main Authors: Ivanchenko, A.V., Tonkoshkur, A.S.
• Format: Article
• Language: Ukrainian; English
• Published: Publishing house "Academperiodika" 2012
• Subjects: -
• Online Access: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021305
• Journal Title: Ukrainian Journal of Physics

Наведено результати моделювання впливу міграції іонів у напівпровідникових кристалітах оксиду цинку при тривалому протіканні робочого електричного струму на вольт-амперні характеристики варисторних структур і визначення умов та параметрів, придатних для контролю процесу їхньої незворотної деградації...