Модифікація оптичних властивостей пористих шарів напівпровідників AIIIBV, отриманих методом анодного травлення

Morphology investigations (atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM)), study of Raman scattering (RS) and photoluminescence (PL) have been performed to characterize a series of AIIIBV materials (GaAs, GaP, InP) with an electrochemically prepared porous surface layer. It ha...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2012
Автори: Dmitruk, N., Berezovska, N., Dmitruk, I., Serdyuk, V., Sabataityte, J., Simkiene, I.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2012
Теми:
-
Онлайн доступ:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021325
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Репозиторії

Ukrainian Journal of Physics