Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками
У гетероструктурах InxGa1–xAs/GaAs з ланцюгами квантових точок (КТ) з різною концентрацією x індію досліджено властивості латерального фотоструму. При зона-зонному збудженні КТ квантами h\ν = 1,2 еВ структури виявили довготривалу динаміку наростання та релаксації фотоструму, а також ефект залишкової...
Збережено в:
Дата: | 2022 |
---|---|
Автори: | , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Ukrainian English |
Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2022
|
Теми: | |
Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022030 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозитарії
Ukrainian Journal of Physicsid |
ujp2-article-2022030 |
---|---|
record_format |
ojs |
spelling |
ujp2-article-20220302022-02-08T07:42:42Z Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками Effect of Interface Defect States on Photoelectric Properties of InxGa1-xAs/GaAs Heterostructures with Quantum Dots Vakulenko, O.V. Golovynskyi, S.L. Kondratenko, S.V. Mazur, Yu.I. Wang, Zh.M. Salamo, G.J. - - У гетероструктурах InxGa1–xAs/GaAs з ланцюгами квантових точок (КТ) з різною концентрацією x індію досліджено властивості латерального фотоструму. При зона-зонному збудженні КТ квантами h\ν = 1,2 еВ структури виявили довготривалу динаміку наростання та релаксації фотоструму, а також ефект залишкової провідності після вимкнення збуджувального випромінювання. Аналіз даних із термостимульованої провідності (ТСП) після збудження оптичним випромінюванням в області поглинання КТ засвідчив такі значення енергетичних рівнів дефектних станів відносно зони провідності GaAs: 0,11 еВ, 0,16 еВ, 0,21 еВ, 0,24 еВ та 0,35 еВ. На дослідах латеральної фотопровідності (ЛФП) виявлено переходи за участю рівнів електронних пасток власних дефектів у GaAs EL2 та EB3. У найпростішому випадку наноструктурного фотопровідника з одним центром прилипання для електронів провідності отримано аналітичнийвигляд кінетики фотоструму, який підтверджено на дослідах зі зразками In0,4Ga0,6As/GaAs. Кінетика фотопровідниківIn0,5Ga0,5As/GaAs дещо складніша і описана лише якісно. Properties of the lateral photocurrent in InxGa1–xAs/GaAs heterostructures with quantum dot (QD) chains at various indiumconcentrations x are investigated. At the interband excitation of QDs by quanta with h\ν = 1.2 eV, the structures have revealed a long-term rise and the relaxation kinetics of the photocurrent as well as the effect of residual conductivity after the exciting radiationis turned off. Analyzing the data on thermostimulated conduction (TSC) after the excitation by optical radiation in the region of QDabsorption, the following energy levels of defect states with respect to the GaAs conduction band were found: 0.11 eV, 0.16 eV, 0.21 eV, 0.24 eV, and 0.35 eV. Investigations of the lateral photoconduction (LPC) made it possible to discover transitions involving the levels of electron traps of EL2 and EB3 GaAs intrinsic defects. In the simplest case of a nanostructured photoconductor with one trapping center, we obtained an analytical expression for the photocurrent kinetics of conduction electrons that was confirmed byexperiments with In0,4Ga0,6As/GaAs samples. The kinetics of In0,5Ga0,5As/GaAs photoconductors is more complex and described only qualitatively. Publishing house "Academperiodika" 2022-02-08 Article Article Peer-reviewed Рецензована стаття application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022030 10.15407/ujpe56.9.940 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 56 No. 9 (2011); 940 Український фізичний журнал; Том 56 № 9 (2011); 940 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe56.9 uk en https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022030/2251 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022030/2252 |
institution |
Ukrainian Journal of Physics |
collection |
OJS |
language |
Ukrainian English |
topic |
- - |
spellingShingle |
- - Vakulenko, O.V. Golovynskyi, S.L. Kondratenko, S.V. Mazur, Yu.I. Wang, Zh.M. Salamo, G.J. Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками |
topic_facet |
- - |
format |
Article |
author |
Vakulenko, O.V. Golovynskyi, S.L. Kondratenko, S.V. Mazur, Yu.I. Wang, Zh.M. Salamo, G.J. |
author_facet |
Vakulenko, O.V. Golovynskyi, S.L. Kondratenko, S.V. Mazur, Yu.I. Wang, Zh.M. Salamo, G.J. |
author_sort |
Vakulenko, O.V. |
title |
Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками |
title_short |
Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками |
title_full |
Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками |
title_fullStr |
Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками |
title_full_unstemmed |
Вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур InxGa1-xAs/GaAs з квантовими точками |
title_sort |
вплив дефектних станів інтерфейсу на фотоелектричні властивості гетероструктур inxga1-xas/gaas з квантовими точками |
title_alt |
Effect of Interface Defect States on Photoelectric Properties of InxGa1-xAs/GaAs Heterostructures with Quantum Dots |
description |
У гетероструктурах InxGa1–xAs/GaAs з ланцюгами квантових точок (КТ) з різною концентрацією x індію досліджено властивості латерального фотоструму. При зона-зонному збудженні КТ квантами h\ν = 1,2 еВ структури виявили довготривалу динаміку наростання та релаксації фотоструму, а також ефект залишкової провідності після вимкнення збуджувального випромінювання. Аналіз даних із термостимульованої провідності (ТСП) після збудження оптичним випромінюванням в області поглинання КТ засвідчив такі значення енергетичних рівнів дефектних станів відносно зони провідності GaAs: 0,11 еВ, 0,16 еВ, 0,21 еВ, 0,24 еВ та 0,35 еВ. На дослідах латеральної фотопровідності (ЛФП) виявлено переходи за участю рівнів електронних пасток власних дефектів у GaAs EL2 та EB3. У найпростішому випадку наноструктурного фотопровідника з одним центром прилипання для електронів провідності отримано аналітичнийвигляд кінетики фотоструму, який підтверджено на дослідах зі зразками In0,4Ga0,6As/GaAs. Кінетика фотопровідниківIn0,5Ga0,5As/GaAs дещо складніша і описана лише якісно. |
publisher |
Publishing house "Academperiodika" |
publishDate |
2022 |
url |
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022030 |
work_keys_str_mv |
AT vakulenkoov vplivdefektnihstanívínterfejsunafotoelektričnívlastivostígeterostrukturinxga1xasgaaszkvantovimitočkami AT golovynskyisl vplivdefektnihstanívínterfejsunafotoelektričnívlastivostígeterostrukturinxga1xasgaaszkvantovimitočkami AT kondratenkosv vplivdefektnihstanívínterfejsunafotoelektričnívlastivostígeterostrukturinxga1xasgaaszkvantovimitočkami AT mazuryui vplivdefektnihstanívínterfejsunafotoelektričnívlastivostígeterostrukturinxga1xasgaaszkvantovimitočkami AT wangzhm vplivdefektnihstanívínterfejsunafotoelektričnívlastivostígeterostrukturinxga1xasgaaszkvantovimitočkami AT salamogj vplivdefektnihstanívínterfejsunafotoelektričnívlastivostígeterostrukturinxga1xasgaaszkvantovimitočkami AT vakulenkoov effectofinterfacedefectstatesonphotoelectricpropertiesofinxga1xasgaasheterostructureswithquantumdots AT golovynskyisl effectofinterfacedefectstatesonphotoelectricpropertiesofinxga1xasgaasheterostructureswithquantumdots AT kondratenkosv effectofinterfacedefectstatesonphotoelectricpropertiesofinxga1xasgaasheterostructureswithquantumdots AT mazuryui effectofinterfacedefectstatesonphotoelectricpropertiesofinxga1xasgaasheterostructureswithquantumdots AT wangzhm effectofinterfacedefectstatesonphotoelectricpropertiesofinxga1xasgaasheterostructureswithquantumdots AT salamogj effectofinterfacedefectstatesonphotoelectricpropertiesofinxga1xasgaasheterostructureswithquantumdots |
first_indexed |
2023-03-24T09:00:17Z |
last_indexed |
2023-03-24T09:00:17Z |
_version_ |
1795757748472774656 |