Роль олова у формуванні мікро- і наноструктури поверхні шаруватих плівок Si–Sn–Si

The methods of Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, and X-ray fluorescence microanalysis are used to study the influence of tin on the shape and sizes of micro- and nano-structures arising on the surface of layered Si–Sn–Si films, as well as on the formation of...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2023
Автори: Neimash, V.B., Shepelyavyi, P.E., Nikolenko, A.S., Strelchuk, V.V., Chegel, V.I., Olkhovyk, I.V., Voronov, S.O.
Формат: Стаття
Мова:English
Ukrainian
Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2023
Теми:
Онлайн доступ:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022602
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Репозиторії

Ukrainian Journal of Physics