2025-02-22T17:03:29-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22ujp2-article-2023166%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T17:03:29-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22ujp2-article-2023166%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T17:03:29-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-22T17:03:29-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу

Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу

On the example of the multifractal (MF) analysis of the images obtained for the surfaces of nanofilms synthesized in the ZnO–SiO2 system using the sol-gel technology, the specific features of this method relevant for measuring the quantitative surface characteristics have been discussed. As the inpu...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Balytska, N.O., Moskvin, P.P., Skyba, G.V., Rashkovetskyi, L.V., Kryzhanivskyy, V.B., Polonskyi, L.G.
Format: Article
Language:English
Ukrainian
Published: Publishing house "Academperiodika" 2024
Subjects:
nanorelief
multifractal analysis
determination errors of R´enyi numbers
sol-gel technology
nanolayer surface
нанорельєф
мультифрактальний аналiз
похибки визначення чисел Реньї
золь-гель технологiя
поверхня наношарiв
Online Access:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Internet

https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166

Similar Items