2025-02-23T00:34:13-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22ujp2-article-2023166%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T00:34:13-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22ujp2-article-2023166%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T00:34:13-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T00:34:13-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу

Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу

On the example of the multifractal (MF) analysis of the images obtained for the surfaces of nanofilms synthesized in the ZnO–SiO2 system using the sol-gel technology, the specific features of this method relevant for measuring the quantitative surface characteristics have been discussed. As the inpu...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Balytska, N.O., Moskvin, P.P., Skyba, G.V., Rashkovetskyi, L.V., Kryzhanivskyy, V.B., Polonskyi, L.G.
Format: Article
Language:English
Ukrainian
Published: Publishing house "Academperiodika" 2024
Subjects:
nanorelief
multifractal analysis
determination errors of R´enyi numbers
sol-gel technology
nanolayer surface
нанорельєф
мультифрактальний аналiз
похибки визначення чисел Реньї
золь-гель технологiя
поверхня наношарiв
Online Access:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
id ujp2-article-2023166
record_format ojs
institution Ukrainian Journal of Physics
collection OJS
language English
Ukrainian
topic nanorelief
multifractal analysis
determination errors of R´enyi numbers
sol-gel technology
nanolayer surface
нанорельєф
мультифрактальний аналiз
похибки визначення чисел Реньї
золь-гель технологiя
поверхня наношарiв
spellingShingle nanorelief
multifractal analysis
determination errors of R´enyi numbers
sol-gel technology
nanolayer surface
нанорельєф
мультифрактальний аналiз
похибки визначення чисел Реньї
золь-гель технологiя
поверхня наношарiв
Balytska, N.O.
Moskvin, P.P.
Skyba, G.V.
Rashkovetskyi, L.V.
Kryzhanivskyy, V.B.
Polonskyi, L.G.
Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу
topic_facet nanorelief
multifractal analysis
determination errors of R´enyi numbers
sol-gel technology
nanolayer surface
нанорельєф
мультифрактальний аналiз
похибки визначення чисел Реньї
золь-гель технологiя
поверхня наношарiв
format Article
author Balytska, N.O.
Moskvin, P.P.
Skyba, G.V.
Rashkovetskyi, L.V.
Kryzhanivskyy, V.B.
Polonskyi, L.G.
author_facet Balytska, N.O.
Moskvin, P.P.
Skyba, G.V.
Rashkovetskyi, L.V.
Kryzhanivskyy, V.B.
Polonskyi, L.G.
author_sort Balytska, N.O.
title Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу
title_short Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу
title_full Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу
title_fullStr Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу
title_full_unstemmed Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу
title_sort особливості досліджень поверхні плівок zno–sio2 методом мультифрактального аналізу
title_alt Specific Features of Surface Research of ZnO–SiO2 Films by Multifractal Analysis
description On the example of the multifractal (MF) analysis of the images obtained for the surfaces of nanofilms synthesized in the ZnO–SiO2 system using the sol-gel technology, the specific features of this method relevant for measuring the quantitative surface characteristics have been discussed. As the input information for the implementation of this approach to the description of the surface state, Secondary-Electron Microscopy (SEM) images of the surfaces of specimens synthesized under given conditions are used. Numerical calculations of the generalized partition functions for the area and volume of spatial nanoforms show the linear dependences of those nano-geometric parameters of the surface on spatial dimensions, which is the main proof of their self-similarity and fractal symmetry. The necessity to enhance the reliability of determining the parameters of MF spectra is emphasized, and the factors responsible for the accuracy of the calculated absolute values of the R´enyi numbers are analyzed. Recommendations have been made to minimize errors in order to obtain the most reliable data for the MF surface parameters. The dependences of the R´enyi numbers on the temperature of the sol-gel synthesis of ZnO–SiO2 layers are presented. For the further implementation of the multifractal analysis (MFA) results in physical calculations, the attention is attracted to the necessity of a correct choice of those R´enyi numbers that include the required information about the simulated fractal parameter. The physical origins for the appearance of a relation between, on the one hand, the parameters of MF spectra for the surface area and the volume of nanoforms formed on the film surface and, on the other hand, the conditions of their synthesis have been discussed.
publisher Publishing house "Academperiodika"
publishDate 2024
url https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166
work_keys_str_mv AT balytskano specificfeaturesofsurfaceresearchofznosio2filmsbymultifractalanalysis
AT moskvinpp specificfeaturesofsurfaceresearchofznosio2filmsbymultifractalanalysis
AT skybagv specificfeaturesofsurfaceresearchofznosio2filmsbymultifractalanalysis
AT rashkovetskyilv specificfeaturesofsurfaceresearchofznosio2filmsbymultifractalanalysis
AT kryzhanivskyyvb specificfeaturesofsurfaceresearchofznosio2filmsbymultifractalanalysis
AT polonskyilg specificfeaturesofsurfaceresearchofznosio2filmsbymultifractalanalysis
AT balytskano osoblivostídoslídženʹpoverhníplívokznosio2metodommulʹtifraktalʹnogoanalízu
AT moskvinpp osoblivostídoslídženʹpoverhníplívokznosio2metodommulʹtifraktalʹnogoanalízu
AT skybagv osoblivostídoslídženʹpoverhníplívokznosio2metodommulʹtifraktalʹnogoanalízu
AT rashkovetskyilv osoblivostídoslídženʹpoverhníplívokznosio2metodommulʹtifraktalʹnogoanalízu
AT kryzhanivskyyvb osoblivostídoslídženʹpoverhníplívokznosio2metodommulʹtifraktalʹnogoanalízu
AT polonskyilg osoblivostídoslídženʹpoverhníplívokznosio2metodommulʹtifraktalʹnogoanalízu
first_indexed 2024-03-31T09:28:24Z
last_indexed 2024-03-31T09:28:24Z
_version_ 1795757773322977280
spelling ujp2-article-20231662024-01-06T13:49:58Z Specific Features of Surface Research of ZnO–SiO2 Films by Multifractal Analysis Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу Balytska, N.O. Moskvin, P.P. Skyba, G.V. Rashkovetskyi, L.V. Kryzhanivskyy, V.B. Polonskyi, L.G. nanorelief multifractal analysis determination errors of R´enyi numbers sol-gel technology nanolayer surface нанорельєф мультифрактальний аналiз похибки визначення чисел Реньї золь-гель технологiя поверхня наношарiв On the example of the multifractal (MF) analysis of the images obtained for the surfaces of nanofilms synthesized in the ZnO–SiO2 system using the sol-gel technology, the specific features of this method relevant for measuring the quantitative surface characteristics have been discussed. As the input information for the implementation of this approach to the description of the surface state, Secondary-Electron Microscopy (SEM) images of the surfaces of specimens synthesized under given conditions are used. Numerical calculations of the generalized partition functions for the area and volume of spatial nanoforms show the linear dependences of those nano-geometric parameters of the surface on spatial dimensions, which is the main proof of their self-similarity and fractal symmetry. The necessity to enhance the reliability of determining the parameters of MF spectra is emphasized, and the factors responsible for the accuracy of the calculated absolute values of the R´enyi numbers are analyzed. Recommendations have been made to minimize errors in order to obtain the most reliable data for the MF surface parameters. The dependences of the R´enyi numbers on the temperature of the sol-gel synthesis of ZnO–SiO2 layers are presented. For the further implementation of the multifractal analysis (MFA) results in physical calculations, the attention is attracted to the necessity of a correct choice of those R´enyi numbers that include the required information about the simulated fractal parameter. The physical origins for the appearance of a relation between, on the one hand, the parameters of MF spectra for the surface area and the volume of nanoforms formed on the film surface and, on the other hand, the conditions of their synthesis have been discussed. На прикладi мультифрактального аналiзу (МФА) зображень поверхонь наноплiвок, що синтезувалися золь-гель технологiєю в системi ZnО–SiO2, обговорюються особливостi застосування цього методу при отриманнi кiлькiсних характеристик поверхнi. Вхiдною iнформацiєю для реалiзацiї цього пiдходу до опису стану поверхонь були Second electron microscopy (SEM) зображення поверхнi зразкiв пiсля їх синтезу в заданих умовах. Чисельними розрахунками узагальнених статистичних сум для площi та об’ємiв просторових наноформ показано iснування їх лiнiйних залежностей вiд просторових розмiрiв, що є основним доказом наявностi самоподiбностi та фрактальної симетрiї серед зазначених геометричних параметрiв поверхнi. Наголошується на необхiдностi пiдвищення надiйностi визначення параметрiв МФ спектрiв та аналiзуються причини, що контролюють точнiсть абсолютних значень чисел Реньї. Вироблено рекомендацiї для мiнiмiзацiї похибок з метою отримання найбiльш вiрогiдних даних щодо МФ параметрiв поверхнi. Наведено залежностi чисел Реньї вiд температури синтезу шарiв ZnO–SiO2 золь-гель методом. Звертається увага на те, що для подальшого застосування результатiв МФА у фiзичних розрахунках необхiдно коректно вибирати тi числа Реньї, якi несуть у собi необхiдну iнформацiйну компоненту за модельованим фрактальним параметром. Обговорюються фiзичнi причини появи взаємозв’язку мiж параметрами МФ спектрiв для площi поверхнi та об’ємiв наноформ, що формуються на поверхнi плiвок, та умовами їх синтезу. Publishing house "Academperiodika" 2024-01-06 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166 10.15407/ujpe68.12.822 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 68 No. 12 (2023); 822 Український фізичний журнал; Том 68 № 12 (2023); 822 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe68.12 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166/3062 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166/3063 Copyright (c) 2023 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items