Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу

• Дата: 2024
• Автори: Balytska, N.O., Moskvin, P.P., Skyba, G.V., Rashkovetskyi, L.V., Kryzhanivskyy, V.B., Polonskyi, L.G.
• Формат: Стаття
• Мова: English; Ukrainian
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2024
• Теми: nanorelief; multifractal analysis; determination errors of R´enyi numbers; sol-gel technology; nanolayer surface; нанорельєф; мультифрактальний аналiз; похибки визначення чисел Реньї; золь-гель технологiя; поверхня наношарiв
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023166
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

On the example of the multifractal (MF) analysis of the images obtained for the surfaces of nanofilms synthesized in the ZnO–SiO2 system using the sol-gel technology, the specific features of this method relevant for measuring the quantitative surface characteristics have been discussed. As the inpu...