-
201Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layerза авторством A. V. Sachenko, V. P. Kostylov, V. H. Lytovchenko, V. H. Popov, B. M. Romaniuk, V. V. Chernenko, V. M. Nasieka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. KomarovОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
202
-
203
-
204
-
205
-
206
-
207
-
208
-
209за авторством T. A. Gavrilko, G. O. Puchkovska, V. I. Styopkin, T. V. Bezrodna, J. Baran, M. DrozdОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
210за авторством J. F.R. Archilla, Y. A. Kosevich, N. Jimйnez, V. J. Sбnchez-Morcillo, L. M. Garsнa-RaffiОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
211
-
212
-
213
-
214
-
215
-
216
-
217
-
218
-
219
-
220