Результати пошуку - Makara, V. A.
- Показ 1 - 20 результатів із 22
- На наступну сторінку
-
1
Effect of a weak constant magnetic field on the silicon single crystal structure за авторством Makara, V.A., Kalinichenko, D.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2011)Отримати повний текст
Стаття -
2
-
3
A theoretical model for calculation of biphase composite failure energy за авторством Popov, A.Yu., Kazo, I.F., Makara, V.A.
Опубліковано в: Functional Materials (2005)Отримати повний текст
Стаття -
4
Calculation of fracture toughness for a biphase ceramic material за авторством Popov, O.Yu., Kazo, I.F., Makara, V.A.
Опубліковано в: Functional Materials (2006)Отримати повний текст
Стаття -
5
Effect of neutron irradiation on non-equilibrium HfB₂-B₄C composites за авторством Totsky, I.M., Shynkarenko, V.V., Popov, O.Yu., Makara, V.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2013)Отримати повний текст
Стаття -
6
Post-anodic formation of luminescent porous silicon layers in atmospheric environment за авторством Makara, V.A., Vakulenko, O.V., Shevchenko, V.B., Dacenko, O.I.
Опубліковано в: Functional Materials (2005)Отримати повний текст
Стаття -
7
Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур за авторством Makara, V. A., Odarych, V. A., Kepich, T. Yu., Preobragenskaya, T. D., Rudenko, O. V.
Опубліковано 2009Отримати повний текст
Стаття -
8
Structure and luminescence study of nanoporous silicon layers with high internal surface за авторством Makara, V.A., Melnichenko, M.M., Svezhentsova, K.V., Khomenkova, L.Yu., Shmyryeva, O.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
9
Evidence for photochemical transformations in porous silicon за авторством Shevchenko, V.B., Makara, V.A., Vakulenko, O.V., Dacenko, O.I., Rudenko, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
10
Електронні властивості поверхні (111) в А3В5 та А2В6 кристалах за авторством Gorkavenko, T.V., Zubkova, S.M., Makara, V.A., Rusina, L.N., Smelyansky, O.V.
Опубліковано 2022
Отримати повний текст
Стаття -
11
Effect of magnetic field on microhardness of germanium за авторством Makara, V.A., Steblenko, L.P., Kuryliuk, A.M., Naumenko, S.M., Kolchenko, Iu.L., Kravchenko, V.M.
Опубліковано в: Functional Materials (2007)Отримати повний текст
Стаття -
12
Relation between structure inhomogeneities and relaxation processes in excited silicon crystals за авторством Makara, V.A., Kolomiets, A.M., Kolchenko, Yu.L., Naumenko, S.M., Rudenko, O.V., Steblenko, L.P.
Опубліковано в: Functional Materials (2004)Отримати повний текст
Стаття -
13
Мiкроструктура тонких композитних плiвок Si–Sn за авторством Neimash, V. B., Poroshin, V. M., Kabaldin, A. M., Yukhymchuk, V. O., Shepelyavyi, P. E., Makara, V. A., Larkin, S. Yu.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
14
Comprehensive studies of defect production and strained states in silicon epitaxial layers and device structures based on them за авторством Boltovets, N.S., Voitsikhovskyi, D.I., Konakova, R.V., Milenin, V.V., Makara, V.A., Rudenko, O.V., Mel’nichenko, M.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)Отримати повний текст
Стаття -
15
Effect of weak magnetic field on structural arrangement of extrinsic oxygen atoms and mechanical properties of silicon monocrystals за авторством Makara, V.A., Steblenko, L.P., Kolchenko, Yu.L., Naumenko, S.M., Lisovsky, I.P., Mazunov, D.O., Mokliak, Yu.Yu.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)Отримати повний текст
Стаття -
16
The relaxation of magnetomechanical effect in silicon crystals under cyclic magnetic treatment за авторством Makara, V.A., Steblenko, L.P., Kuryliuk, A.M., Kobzar, Iu.L., Naumenko, S.M., Krit, A.M., Kravchenko, V.M.
Опубліковано в: Functional Materials (2009)Отримати повний текст
Стаття -
17
Вплив високотемпературного вiдпалу на структуру та край власного поглинання тонкоплiвкового кремнiю, легованого оловом... за авторством Rudenko, R. M., Voitovych, V. V., Kras’ko, M. M., Kolosyuk, A. G., Kraichynskyi, A. M., Yukhymchuk, V. O., Makara, V. A.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
18
Magnetic-Field-Stimulated Modification of Surface Charge and Defect Content in Silicon for Solar Energy Storage за авторством Makara, V.A., Steblenko, L.P., Korotchenkov, O.A., Nadtochiy, A.B., Kalinichenko, D.V., Kuryliuk, A.M., Kobzar, Yu.L., Krit, O.M.
Опубліковано в: Металлофизика и новейшие технологии (2014)Отримати повний текст
Стаття -
19
Silicon crystal strength reduction due to magnetoresonance за авторством Makara, V.A., Pogorilyi, A.M., Steblenko, L.P., Kuryliuk, A.M., Naumenko, S.M., Kobzar, Yu.L., Kravets, A.F., Podyalovsky, D.I., Matveeva, O.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2007)Отримати повний текст
Стаття -
20
Механізм відпалу VO дефектів в n-Si при високотемпературному імпульсному електронному опроміненні за авторством Kraitchinskii, A.M., Kras’ko, M.M., Kolosiuk, A.G., Petrunya , R.V., Povarchuk, V.Yu., Voitovych, V.V., Neimash, V.B., Makara, V.A., Rudenko, R.M.
Опубліковано 2022
Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
-
Characterization and properties
Auger method
Microstructure of thin composite films
Raman spectroscopy
crystallization
doping with tin
ellipsometry
homogeneity control
isochronal annealing
iзохронний вiдпал
methods of measuring the film parameters
optical band gap
thin-film silicon
Дефекты кристаллической решётки
контроль однородности
кристалiзацiя
легування оловом
мiкроструктура тонких композитних плiвок
метод Оже
метод раманiвської спектроскопiї
методы измерения параметров пленок
оптична заборонена зона
тонкоплiвковий кремнiй
эллипсометрия