Способ повышения надёжности светодиодных матриц

by Позний, А.П., Поканевич, А.П.
Published 2008

СПОСІБ ПІДВИЩЕННЯ НАДІЙНОСТІ СВІТЛОДІОДНИХ МАТРИЦЬ

by Позний, А. П., Поканевич, А. П.
Published 2013

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

by Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.
Published 2008

Влияние облучения кремния низкоэнергетическими ионами аргона на образование в нем электрически активных дефектов...

by Попов, В.М., Шустов, Ю.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.
Published 2009

Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур...

by Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М.
Published 2010

Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы...

by Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Самотовка, В.Л.
Published 2011

Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния

by Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М., Гаврилюк, И.И., Панин, А.И.
Published 2010

Фотодиод ультрафиолетового диапазона на основе селенида цинка

by Перевертайло, В.Л., Добровольский, Ю.Г., Попов, В.М., Поканевич, А.П., Мацкевич, В.М., Рыжиков, В.Д., Шабашкевич, Б.Г., Юрьев, В.Г.
Published 2010