Способ повышения надёжности светодиодных матриц

von Позний, А.П., Поканевич, А.П.
Veröffentlicht 2008

СПОСІБ ПІДВИЩЕННЯ НАДІЙНОСТІ СВІТЛОДІОДНИХ МАТРИЦЬ

von Позний, А. П., Поканевич, А. П.
Veröffentlicht 2013

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

von Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.
Veröffentlicht 2008

Влияние облучения кремния низкоэнергетическими ионами аргона на образование в нем электрически активных дефектов...

von Попов, В.М., Шустов, Ю.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П.
Veröffentlicht 2009

Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур...

von Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М.
Veröffentlicht 2010

Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы...

von Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Самотовка, В.Л.
Veröffentlicht 2011

Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния

von Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П., Шустов, Ю.М., Гаврилюк, И.И., Панин, А.И.
Veröffentlicht 2010

Фотодиод ультрафиолетового диапазона на основе селенида цинка

von Перевертайло, В.Л., Добровольский, Ю.Г., Попов, В.М., Поканевич, А.П., Мацкевич, В.М., Рыжиков, В.Д., Шабашкевич, Б.Г., Юрьев, В.Г.
Veröffentlicht 2010