Харвестер відкритої науки НАН України

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging

за авторством Beketov, G.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

за авторством Rengevych, O.V., Beketov, G.V., Ushenin, Yu.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2014)

AFM study of micromorphology and microscopic growth mechanisms of Hg₁₋x CdxTe LPE epitaxial layers

за авторством Beketov, G.V., Rashkovetskiy, L.V., Rengevych, O.V., Zhovnir, G.I.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)

Особливостi дислокацiйного поглинання ультразвуку в безсубблочних кристалах Cd0,2Hg0,8Te

за авторством Lysyuk, I. O., Olikh, Ya. M., Olikh, O. Ya., Beketov, G V.
Опубліковано 2018

Refractory contact to a-SiC produced by laser technology methods

за авторством Fedorenko, L.L., Kiseleov, V.S., Svechnikov, S.V., Yusupov, M.M., Beketov, G.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)

Biochemical passivation of metal surfaces for sensor application: reactive annealing of polycrystalline gold films in hydrogen sulfide atmosphere

за авторством Snopok, B. A., Kostyukevych, K.V., Beketov, G.V., Zinio, S.A., Shirshov, Yu.M., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)

Hot wall growth and properties of lead telluride films doped by germanium and gallium

за авторством Lashkarev, G.V., Radchenko, M.V., Slynko, E.I., Vodopiyanov, V.N., Asotsky, V.V., Kaminsky, V.M., Beketov, G.V., Rengevich, E.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)