Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging за авторством Beketov, G.V.

Отримати повний текст

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy за авторством Rengevych, O.V., Beketov, G.V., Ushenin, Yu.V.

Отримати повний текст

AFM study of micromorphology and microscopic growth mechanisms of Hg₁₋x CdxTe LPE epitaxial layers за авторством Beketov, G.V., Rashkovetskiy, L.V., Rengevych, O.V., Zhovnir, G.I.

Отримати повний текст

Trap-assisted conductivity in anodic oxide on InSb за авторством Beketov, G.V., Sukach, A.V., Tetyorkin, V.V., Trotsenko, S.P.

Отримати повний текст

Особливостi дислокацiйного поглинання ультразвуку в безсубблочних кристалах Cd0,2Hg0,8Te за авторством Lysyuk, I. O., Olikh, Ya. M., Olikh, O. Ya., Beketov, G V.

Отримати повний текст

Refractory contact to a-SiC produced by laser technology methods за авторством Fedorenko, L.L., Kiseleov, V.S., Svechnikov, S.V., Yusupov, M.M., Beketov, G.V.

Отримати повний текст

Biochemical passivation of metal surfaces for sensor application: reactive annealing of polycrystalline gold films in hydrogen sulfide atmosphere за авторством Snopok, B. A., Kostyukevych, K.V., Beketov, G.V., Zinio, S.A., Shirshov, Yu.M., Venger, E.F.

Отримати повний текст

Hot wall growth and properties of lead telluride films doped by germanium and gallium за авторством Lashkarev, G.V., Radchenko, M.V., Slynko, E.I., Vodopiyanov, V.N., Asotsky, V.V., Kaminsky, V.M., Beketov, G.V., Rengevich, E.V.

Отримати повний текст