Харвестер відкритої науки НАН України

The influence of surface defects on the pinhole formation in silicide thin film

von Belousov, I.V., Grib, A.N., Kuznetsov, G.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)

The correlation between film structure and surface temperature

von Shaginyan, L.R., Belousov, I.V., Sedlyar, A.G.
Veröffentlicht in Functional Materials (2009)

Forinjector VEPP-5 klystron gallery control system

von Aleshaev, A.N., Belousov, I.V., Borunov, I.E., Gromov, R.G., Gubin, K.V., Nikiforov, A.A.
Veröffentlicht in Вопросы атомной науки и техники (1999)