Харвестер відкритої науки НАН України

The influence of surface defects on the pinhole formation in silicide thin film

за авторством Belousov, I.V., Grib, A.N., Kuznetsov, G.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)

The correlation between film structure and surface temperature

за авторством Shaginyan, L.R., Belousov, I.V., Sedlyar, A.G.
Опубліковано в: Functional Materials (2009)

Forinjector VEPP-5 klystron gallery control system

за авторством Aleshaev, A.N., Belousov, I.V., Borunov, I.E., Gromov, R.G., Gubin, K.V., Nikiforov, A.A.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (1999)