Suchergebnisse - Belyaev, A.Ye.
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The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers von Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Stanchu, H.V., Sabov, T.M., Melnik, V.P., Kryvyi, S.B., Belyaev, A.Ye.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Volltext
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