Результати пошуку - Kochelab, E.V.
- Показ 1 - 2 результатів із 2
-
1
Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field за авторством Vladimirova, T.P., Kyslovs’kyy, Ye.M., Molodkin, V.B., Olikhovskii, S.I., Koplak, O.V., Kochelab, E.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
2
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals за авторством Molodkin, V.B., Olikhovskii, S.I., Len, E.G., Kyslovskyy, Ye.M., Reshetnyk, O.V., Vladimirova, T.P., Sheludchenko, B.V., Skakunova, E.S., Lizunov, V.V., Kochelab, E.V., Fodchuk, I.M., Klad’ko, V.P.
Опубліковано в: Металлофизика и новейшие технологии (2016)Отримати повний текст
Стаття