Suchergebnisse - Korchovyi, A. A.
- Treffer 1 - 12 von 12
-
1
-
2
Chemical polishing of InAs, InSb, GaAs and GaSb von Levchenko, I.V., Tomashyk, V.M., Stratiychuk, I.B., Malanych, G.P., Stanetska, A.S., Korchovyi, A.A.
Veröffentlicht in Functional Materials (2017)Volltext
Artikel -
3
-
4
-
5
-
6
Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections von Kladko, V.P., Datsenko, L.I., Korchovyi, A.A., Machulin, V.F., Lytvyn, P.M., Shalimov, A.V., Kuchuk, A.V., Kogutyuk, P.P.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Volltext
Artikel -
7
Structure and optical properties of AlN films obtained using the cathodic arc plasma deposition technique von Shapovalov, A.P., Korotash, I.V., Rudenko, E.M., Sizov, F.F., Dubyna, D.S., Osipov, L.S., Polotskiy, D.Yu., Tsybri, Z.F., Korchovyi, A.A.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Volltext
Artikel -
8
Structure and optical properties of AlN films obtained using the cathodic arc plasma deposition technique von Shapovalov, A.P., Korotash, I.V., Rudenko, E.M., Sizov, F.F., Dubyna, D.S., Osipov, L.S., Polotskiy, D.Yu., Tsybrii, Z.F., Korchovyi, A.A.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Volltext
Artikel -
9
Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist von Dan’ko, V.A., Dorozinsky, G.V., Indutnyi, I.Z., Myn’ko, V.I., Ushenin, Yu.V., Shepeliavyi, P.E., Lukaniuk, M.V., Korchovyi, A.A., Khrystosenko, R.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Volltext
Artikel -
10
Структурні та морфологічні властивості нанометрових вуглецевих плівок, отриманих розпиленням графіту електронним променем... von Yukhymchuk, V.O., Dzhagan, V.M., Isaieva, O.F., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Sabov, T.M., Lozinskii, V.B., Yefanov, V.S., Osokin, V.O., Kurapov, Yu.A.
Veröffentlicht 2023
Volltext
Artikel -
11
Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics von Vashchenko, V.A., Yatsenko, I.V., Kovalenko, Yu.I., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Mamykin, S.V., Kondratenko, O.S., Maslov, V.P., Dorozinska, H.V., Dorozinsky, G.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Volltext
Artikel -
12
The influence of substrate temperature on properties of Cu-Al-O films deposited using the reactive ion beam sputtering method von Ievtushenko, A.I., Dusheyko, M.G., Karpyna, V.A., Bykov, O.I., Lytvyn, P.M., Olifan, O.I., Levchenko, V.A., Korchovyi, A.A., Starik, S.P., Tkach, S.V., Kuzmenko, E.F., Lashkarev, G.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Volltext
Artikel
Suchwerkzeuge:
Ähnliche Schlagworte
Technology
-
AFM
CdHgTe semiconductor
Optics
Raman spectroscopy
XPS
biosensors
carbon amorphous films
electron sputtering
graphite-like films
interference lithography
iнтерференцiйна лiтографiя
method of ion implantation
nanostructured layer
surface plasmon resonance
vacuum chalcogenide photoresists
АСМ
бiосенсори
вакуумнi халькогенiднi фоторезисти
вуглецевi аморфнi плiвки
графiтоподiбнi плiвки
електронне розпилення
метод iонної iмплантацiї
наноструктурований шар
напiвпровiдник CdHgTe
поверхневий плазмонний резонанс
раманiвська спектроскопiя