Результати пошуку - Kukharenko, O. G.
- Показ 1 - 2 результатів із 2
-
1
Дослiдження методами ядерного мiкроаналiзу поверхневих наношарiв структури золото–кремнiй за авторством Soroka, V. I., Lebed, S. O., Tolmachov, M. G., Kukharenko, O. G., Veselov, O. O.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
2
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Hall investigations
Rutherford backscattering
Semiconductors and dielectrics
a-particles
a-частинки
alpha particles
buried conductive channels
implantation
interface layer
iмплантацiя
iндуковане частинками характеристичне рентгенiвське випромiнювання
nuclear microanalysis
particle induced X-ray emission
protons
surface layers
альфа-частинки
заглибленi провiднi канали
поверхневi наношари
промiжний шар
протони
резерфордiвське зворотне розсiяння
холiвськi дослiдження
ядерний мiкроаналiз
“Nuclear scanning probe”
“cкануючий ядерний зонд”