Показ 1 - 2 результатів із 2 для пошуку 'L. Olimov', час виконання запиту: 0.00сек. Уточнити результати
  1. 1
    A non-destructive method for measuring the depth of occurrence of the p-n junction of semiconductor photoelectric structures
    за авторством R. Aliev, E. Mukhtarov, L. Olimov
    Опубліковано 2010
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    The process of forming the polycrystalline silicon wafer from the powder raw material and analyzing the impurity composition of their surface
    за авторством R. Aliev, L. Olimov, E. Mukhtarov, Zh. Alieva
    Опубліковано 2011
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою