Результати пошуку - L. Olimov

  • Показ 1 - 2 результатів із 2
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    A non-destructive method for measuring the depth of occurrence of the p-n junction of semiconductor photoelectric structures за авторством R. Aliev, E. Mukhtarov, L. Olimov

    Опубліковано 2010
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Зображення обкладинки

    The process of forming the polycrystalline silicon wafer from the powder raw material and analyzing the impurity composition of their surface за авторством R. Aliev, L. Olimov, E. Mukhtarov, Zh. Alieva

    Опубліковано 2011
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: