Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers за авторством Holiney, R.Yu., Matveeva, L.A., Venger, E.F.

Отримати повний текст

Electron beam application for mechanical stress relaxation and for SI-SIO₂ interface structural regulation за авторством Matveeva, L.A., Vanger, E.F., Holiney, R.Yu.

Отримати повний текст

Analysis of the fundamental absorption edge of the films obtained from the C₆₀ fullerene molecular beam in vacuum and effect of internal mechanical stresses on it за авторством Kolyadina, E.Yu., Matveeva, L.A., Neluba, P.L., Venger, E.F.

Отримати повний текст

Quantum-size effects in semiconductor heterosystems за авторством Matveeva, L.A., Venger, E.F., Kolyadina, E.Yu., Neluba, P.L.

Отримати повний текст

Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках за авторством Venger, E. F., Lytvyn, P. M., Matveeva, L. A., Mitin, V. F., Kholevchuk, V. V.

Отримати повний текст

The features of structural-impurity ordering of interfaces in Ta₂O₅-p-Si heterostructures (exposed to microwave pretreatment and aging) induced by further microwave treatment за авторством Kolyadina, E.Yu., Konakova, R.V., Matveeva, L.A., Mitin, V.F., Shynkarenko, V.V., Atanassova, E.

Отримати повний текст

Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments за авторством Gorbach, T.Ya., Holiney, R.Yu., Matiyuk, I.M., Matveeva, L.A., Svechnikov, S.V., Venger, E.F.

Отримати повний текст

Ordering of lateral nonuniformity of TiBx film and transition layer in the TiBx-GaAs system за авторством Konakova, R.V., Milenin, V.V., Voitsikhovskyi, D.I., Kamalov, A.B., Kolyadina, E.Yu., Lytvyn, P.M., Lytvyn, O.S., Matveeva, L.A., Prokopenko, I.V.

Отримати повний текст

Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon за авторством Groza, A.A., Venger, E.F., Varnina, V.I., Holiney, R.Yu., Litovchenko, P.G., Matveeva, L.A., Litovchenko, A.P., Sugakov, V.I., Shmatko, G.G.

Отримати повний текст